应变测试方法.pptxVIP

电阻应变片的发展与应用;－1953年．P·杰克逊利用光刻技术，首次制成了箔式应变片，随着微光刻技术的进展，这种应变计的栅长可短至0.178mm －1954年．史密斯发现半导体材料具有的压阻效应。 为了克服直流放大器信息的漂移和线性精度度差等缺点，传统的电阻应变仪都采用交流放大器．以载波放大方式传递信号．这种仪器的性能稳定，其精度能满足一般的测试要求，但它的工作频率受载波频率的限制，而且存在电容,电感影响，测量精度等问题。 －1957年，W.P.Mason，等研制出半导体应变片，其灵敏系数比金属丝应变片高50倍，现已用于不同环境、条件下各种类型的电阻应变片，还有用于测量残余应力和应力集中等的特殊应变片 －60年代，出现了采用直流放大器的电阻应变仪。 ; 近来，朝着数字化、自动化方向发展，现已有数字式测量动、静态数据采集处理系统。目前，各种不??规格、不同品种的电阻应变片已有二万多种 －电阻测量技术可分为静态应变测量和动态应变测量两类。 －恒定的载荷或短时稳定的载荷的测量，称为静态测量； －对载荷在2-1200Hz范围内变化的测量，称为动态测量。 －不同的工作温度对电阻应变片和导线等有不同的要求，一般将应变测量按工作温度分为五个区段： 常温应变测量： 30一60C0 中温应变测量： 60一300C0 高温应变测量： 3