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第十三章 X 射线显微分析 ;13.1 基本原理;一、特征X 射线的产生以及与元素间的联系 ;二、X射线显微分析的基本原理 ;三、常用的X射谱仪有两种: ;13.2 X射线谱仪 ;(2) 分光晶体 在波谱仪中最关键的器件是分光晶体，分光晶体为一定晶面间距d的晶体，晶面被弯曲成一定的弧度。 当样品中激发的特征X射线射向分光晶体时，一定波长的特征X射线与分光晶体相互作用，当此特征X射线波长?、分光晶体晶面间距、X射线与分光晶体晶面夹角?满足布拉格关系时，则产生衍射，即： 2dHKLsinθ=λ时 → 产生衍射 → 被探测器检测 →由计算机分析 两种类型的谱仪示意图 牛津波谱仪示意图; 分光晶体做成弯曲状是保证以一定发散角射向晶体的X射线产生衍射后能会聚一点?探测器. 当分光晶体转动改变入射角?时，就能使不同的特征X射线成产生衍射，以达到分光的目的。 性能要求： ?????? 好的衍射性能 ???? 高的衍射效率 ???? 强的反射能力 好的分辨率 分光晶体对X射线的色散有一定的限制,即一种分光晶体?色散一定的波长范围 ： ?2d ?: 15?～65? 常用分光晶体见表一。;(3) 波谱图 以计数率即X射线的强度为纵坐标，以波长为横坐