Q_LW 002-2019薄膜纳米孔径分析仪.pdf

Q 江 苏 鲁 汶 仪 器 限 公 司 企 业 标 准 Q/LW 002—2019 代替：Q/LW 001-2016 薄膜纳米孔径分析仪 2019 -12 - 20 发布 2019 - 12-30 实施 江苏鲁汶仪器有限公司 发 布 Q/LW 002—2019 前 言 本标准是对Q/LW 002-2016 《薄膜纳米孔径分析仪》的修订。 本次修订与原标准相比主要有以下变化： ――调整了标准格式、结构； ――调整了产品的性能； ――增加了产品安全项目要求； ――调整了检验规则和试验方法； ――增加了标志、包装、运输、贮存。 本标准的编制遵循了GB/T 1.1-2009 《标准化工作导则第1部分：标准的结构和编写》的有关规定。 本标准由江苏鲁汶仪器有限公司提出并负责起草。 本标准主要起草人：Mihail Baklanov、Kanstatin Mogilnikov、徐康宁、冯海国。 本标准于2016年9月首次发布，2019年12月第二次修订。标准自实施之日起，Q/LW 002-2016同时废 止。 I Q/LW 002—2019 薄膜纳米孔径分析仪 1 范围 本标准规定了薄膜纳米孔径仪的设备配置、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、安全、标 志、包装、运输、贮存。 本标准适用于薄膜纳米孔径分析仪 （以下简称产品）。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T 2985-2008 生物显微镜 GB 4793.1-2007 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1 部分 通用要求 GB/T 11606-2007 分析仪器环境试验方法 GB/T 12519-2010 分析仪器通用技术条件 GB/T 10111 随机数的产生及其在产品质量抽样检验中的应用程序 GB/T 13306 标牌 3 设备配置、基本参数 设备配置、基本参数应符合表1的规定。 表1 设备配置、基本参数 序号 设备名称 主要技术参数 主要的测试设备，以此为基础开展测试项目。 1) 光谱范围370nm～1050nm 2) 测量时间短，单次测量时间：一般全波长测量小于10 秒；样品孔径 测量时间：2MIN-25MIN。 3) 光源：稳定卤钨灯； 4) 样品尺寸：≤150毫米； 5) 薄膜厚度：0～3000 纳米； 光学检测系统 1 6) 可在10 秒钟内同