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《测试技术基础练习题二》 选择题 1、测试技术的发展趋势： B A.智能化，集成化，高灵敏化，数字化； B.智能化，集成化，微小化，数字化 C.集成化，高灵敏化，微小化，数字化； D.智能化，高灵敏化，微小化，数字化 2、描述非周期信号的数学工具是 C 。 A 三角函数 B 拉氏变换 C 傅氏变换 D 傅氏级数 3、在下面的传感器的主要性能指标中，能反映传感器对于随时间变化的动态量的响应特征是 C ，能够反映多次连续测量测量值的分散度是 。 A．灵敏度 动态特性；B．动态特性，线性度； C．动态特性，重复度；D．稳定度，动态特性。 4、一阶测试系统，二阶测试系统的瞬态响应之间最重要的差别是 C 。 A．在阻尼状态下,二阶系统具有衰减正弦震荡,而一阶系统不存在； B．在欠阻尼状态下,一阶系统具有衰减正弦震荡,而二阶系统不存在； C．在欠阻尼状态下,二阶系统具有衰减正弦震荡,而一阶系统不存在； D．?以上说法均不正确? 5、半导体应变片的工作原理是基于半导体材料的 A 。 A．压阻效应；B．应变效应；C．霍耳效应；D．光电效应 6、不能用确定的函数关系描述的信号是 C 。 A 复杂周期信号 B 瞬态信号 C 随机信号 D 离散信号 7、数字信号处理涉及的步骤是 A 。 A.