单光子探测器后脉冲概率的测量开题分析方案.pdfVIP

山西大学本科毕业论文 设计）开题报告 姓 名 张永信 学 号 2004274062 所在专业 光信息科学与技术 论文 设计）题目 单光子探测器后脉冲概率测量实验及结果的理论分析 选题的目的和意义： 近年来，随着量子信息学科的发展，单光子探测器 SPCM ）在量子保密通讯 [1-3] 、分子荧光寿命 测量 [4, 5] 、单光子源制备 [6-8] 等弱光探测领域中得到了广泛的应用。相比于传统的模拟信号测量方法， 单光子探测器对于工作电压及环境温度的微小变化的变化不敏感，具有更高的稳定性和信噪比。但是 单光子探测器在没有光子入射时，仍然会产生一定数量的计数，严重影响着其在光子计数测量，尤其 是量子保密通讯中的应用。 噪声主要有两类：一类是由于热噪声和隧穿效应引起的暗计数；另一类是由于俘获载流子的再释 放引起的后脉冲。暗计数率基本上与入射光强无关，而后脉冲的强度则随着入射光强的增大而增大。 在计数率相对较大的实验中，如量子保密通讯中，暗计数对于测量的影响变得很微弱，如何减小后脉 冲的影响就变得尤其重要。通常采用的方法为门控模式测量，即在光子到达的时才使单光子