材料现代研究方法透射电子显微镜.pptxVIP

透射电子显微镜;;透射电子显微镜的主要功能;电子衍射 ;X射线衍射;电子衍射花样的分析包括两个方面： 1）衍射几何：电子束经晶体散射后所产生的干涉线或斑点的位置； 2）衍射强度：即电子束经晶体散射后所产生的干涉线或斑点的强度。 ;电子衍射与电子衍射仪;;;相机长度;(a)第一幅衍射花样的形成和选区电子衍射原理 ;电子显微镜中的电子衍射;电子显微镜中的电子衍射;电子显微镜中的电子衍射;电子显微镜中的电子衍射;3.单晶体和多晶体电子衍射花样指数标定;3.单晶体和多晶体电子衍射花样指数标定;单晶电子衍射花样的标定方法 ;1．尝试-校核法 ;(1) 选择靠近中心斑点而且不在一条直线上的几个斑点A、B、C、D。测量R值分别为 RA=7.1 mm，RB＝10.0 mm RC＝12.3 mm，RD＝21.5 mm； R矢量之间夹角的测量值为： RA与RB约90o，RA与RC约55o，RA与RD约71o。;（2）求R2比值，找出最接近的整数比，由此确定各斑点所属的衍射晶面族。 这是体心立方结构的N值。当然也可写成1:2:3:9作为简单立方结构的比值，这是在指数化过程中经常遇到的情况。 （3） 尝试斑点的指数，最短矢量的A斑点对应的晶面族{110}共有12个晶面(包括正反符号)： (110)，(101)，(011)， ， ， ， ， ， ， ， ， 。 可以任选一指数，这样就有12种选法。 ;（4）按矢量运算求出C和D的指数： RC＝RA＋RB 因为：hC＝hA＋hB，kC＝kA＋kB，lC＝lA+lB 所以可求得C和D。 （5）对求出的指数继续用N和 校核 ，与实际R2比值所得N值相比较；并对斑点指数化是否自洽进行检验。 ;（6）求晶带轴[uvw]。 在电子衍射分析中，可用两个不共线的斑点(h1k1l1)和(h2k2l2)求出晶带轴方向。由晶带定律，用行列式表示： u:v:w = ;2．标准花样对照法 如果我们预先画出各种晶体点阵主要??带的倒易平面，以此作为不同入射条件下的标准花样，则实际观察、记录的衍射花样可以直接通过与标准花样对照，写出斑点指数和晶带轴方向。 一般书中给出面心立方、体心立方和密排六方晶体的几个主要低指数的零层倒易平面，但在实际研究中常常出现其他晶带指数的衍射花样，这时掌握标准花样的作图方法就显得尤为重要。;;在标定衍射花样时，尝试-校核法具有普遍性，它不仅适用于立方晶系的晶体，而且适用于任何晶系的晶体，但是它的计算量大，比较繁琐，标准花样对照法就弥补了这一缺点。但是一般书中只给出少数几个结构类型的、有限的几个低指数晶带的标准花样，往往不能满足实际研究的需要；而要作出不同结构类型的不同晶带的标准花样，就需要花费大量的时间。因此，对于这两种方法存在的问题，借助电子计算机是最好的解决方法。;七种晶系衍射斑点排布方式 ;3.单晶体和多晶体电子衍射花样指数标定;3.单晶体和多晶体电子衍射花样指数标定;3.单晶体和多晶体电子衍射花样指数标定;3.单晶体和多晶体电子衍射花样指数标定;;复杂电子衍射花样：1.高阶劳埃带;3.单晶体和 多晶体电子衍射花样指数标定;;;Kikuchi lines;Kikuchi line formation;Kikuchi line formation;Kikuchi line formation;Kikuchi line formation;Kikuchi line formation;Kikuchi line formation;;;;3.单晶体和 多晶体电子衍射花样指数标定;;;电子背反射衍射(EBSD)