集成电路 电磁抗扰度测量 - 第1部分：通用条件和定义2020.pdfVIP

ICS 31.200 L 56 中华人 民共和 国国家标准 GB/TXXXX.1—XXXX/IEC 62132-1:2015 a 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 Integratedcircuits-Measurement ofelectromagneticimmunity -Part 1:Generalconditionsanddefinitions （IEC 62132-1: 2015，IDT） b 征求意见稿 c （本稿完成日期：2020.05.19） XXXX-XX-XX发布 XXXX-XX-XX实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T XXXXX.1-XXXX/IEC 62132-1:2015 目  次 前言II 1 范围1 2 规范性引用文件1 3 术语和定义1 4 试验条件4 4.1 概述4 4.2 环境条件4 4.3 试验发生器4 4.4 频率范围5 5 试验设备5 5.1 概述5 5.2 屏蔽5 5.3 试验发生器和功率放大器5 5.4 其他组件5 6 试验布置5 6.1 概述5 6.2 试验电路板5 6.3 引脚选择方案6 6.4 IC引脚负载/终端6 6.5 电源的要求6 6.6 IC的特殊要求6 6.7 IC的长期稳定性7 7 试验程序7 7.1 监测检查7 7.2 人员暴露7 7.3 系统验证7 7.4 特殊程序7 8 试验报告9 8.1 概述9 8.2 抗扰度限值或等级9 8.3 IC性能分级9 8.4 试验结果的解释9 附录A （资料性附录） 试验方法比较11 附录B （资料性附录） 通用试验板的描述13 参考文献16 I GB/T XXXXX.1-XXXX/IEC 62132-1:2015 前  言 GB/T XXXXX 《集成电路 电磁抗扰度测量》包括以下部分： GB/T XXXXX.1-XXXX 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 GB/T XXXXX.2-XXXX 集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM 小室法 GB/T XXXXX.3-XXXX 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入(BCI)法 GB/T XXXXX.4-XXXX 集成电路 电磁抗扰度测