集成电路 电磁抗扰度测量 - 第1部分：通用条件和定义 编制说明.pdfVIP

国家标准制修订工作资料 GB/T XXXXX.1-202X 《集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件 和定义》 （征求意见稿）编制说明 一、工作简况 1、任务来源 GB/T XXXXX.1-202X 《集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义》 由全国半导体器件标准化技术委员会 （SAC/TC78）提出，报国家标准化管理委员会批 准，下达国家标准制修订项目计T-339。 2、协作单位 本标准的编制由中国电子技术标准化研究院主起草，北京智芯微电子科技有限公 司、工业和信息化部电子第五研究所、天津市滨海新区军民融合创新研究院、浙江诺 益科技有限公司、东南大学、上海市计量测试技术研究院、深圳市北测标准技术服务 有限公司等参与完成。 3、主要工作过程 2019年4月，标准主起草单位中国电子技术标准化研究院完成了编写符合GB/T 1.1-2009的标准工作组讨论稿； 2019年5月，集成电路标准工作组在北京召开了本标准的讨论会，会上对标准 工作组讨论稿进行了逐条审议，对重要的有歧义的技术内容进行了充分的讨论，达成 了共识，会上形成了标准征求意见稿 （工作组）； 2020年4月，标准主起草单位再次把标准征求意见稿 （工作组）发送给工作组 成员进行意见征求； 2020年5月，标准主起草单位根据工作组单位的回复意见，对征求意见稿 （工 作组）进行了再次修改和完善，由此完成了标准征求意见稿。 二、标准编制原则和确定主要内容的论据及解决的主要问题 1、编制原则 1）标准编制遵循 “统一性、适用性、一致性、规范性”的原则，注重标准的可 操作性。本标准的编写符合GB/T 1.1-2009 《标准化工作导则 第1部分：标准的结 构和编写》的编制要求； 2）本标准等同采用IEC 62132-1:2015 《集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分： 通用条件和定义》； 国家标准制修订工作资料 3）编写格式与IEC 62132-1:2015标准一致； 4）术语和定义与已有标准保持一致，例如GB/T 4365-2003等。 2、主要内容 本部分提供了集成电路（IC）传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息和定义。 同时也给出了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验报告内容的描述。 第3章 术语和定义，包括28个名词术语； 第4章 试验条件； 第5章 试验设备； 第6章 试验布置； 第7章 试验程序； 第8章 试验报告。 还包括2个附录，分别为试验方法比较和通用试验板的描述。 3、编制过程中解决的主要问题 1）国际标准中的规范性引用文件未引用IEC 60050-161，但标准第3章术语和定 义部分应用了该标准，因此在国标的第2章中引用了等同IEC 60050-161的GB/T 4365-2003。 三、主要试验情况分析 本标准规定了集成电路电磁兼容抗扰度试验的通用要求、定义和术语，不涉及试 验。 四、知识产权情况说明 本标准不涉及知识产权。 五、产业化情况、推广应用论证和预期达到的经济效果 1、产业化情况 IC 本标准提供了集成电路（ ）传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息和定义。 同时也给出了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验报告内容的描述。 是制定本系列其他部分的基础，为集成电路产品类标准、产品标准所引用，也为标准 使用者提供了选择试验方法的指南，是我国集成电路电磁兼容领域标准制定的基础。 2 、标准推广应用 本标准发布后将由技术归口单位全国半导体器件标准化技术委员会组织宣贯，邀 请业内的检测认证机构、生产制造企业、科研院所、高等院校等单位参加，扩大本标 国家标准制修订工作资料 准的应用范围，积极推动行业发展。 3、标准应用的预期效果 本标准作为基础标准，提供了集成电路 （IC ）传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的 通用信息和定义。同时也给出了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验 报告内容的描述，为集成