摩擦学测试技术.ppt

2、光电子能谱技术 光电子能谱技术按其所用激发源的类别(X射线或紫外光射线)，又可分为X射线光电子能谱技术(XPS)和紫外光电子能谱技术(UPS)。由于X射线的穿透能力强，可获得内、外层光电子能谱，故X射线光电子能谱技术对检测轻、重元素和电子分布状态都很有效；而紫外光射线对激发价层电子的灵敏度相当高，故紫外光电子能谱技术适用于检测价电子能带及其反应，并可检测吸附所产生的变化。 二、表面成分与原子状态分析 1、扫描探针显微技术的基本特点 (1)近场探测特定的物理量 采用微小的探针(探测头)，以小于光和声波的波长的距离靠近被测试样的表面，以局部地测定其特定的物理量。 (2)用机械式探针取代电子束或光子束 不采用透镜，因而可不考虑衍射效应，其分辨率不受波长的限制，所以其放大倍数很大，一般为50~500万倍，可以很容易观察到单一的原子和单个原子层的表面结构。 三、扫描探针显微技术 1、扫描探针显微技术的基本特点 (3)可观察到物质表面结构的三维图像。 (4)可在大气、真空、常温、低温或液体等多种环境下工作。 (5)不需要特别的制样技术，而且探测过程中不损伤样品。 三、扫描探针显微技术 2、扫描隧道显微镜(STM) 扫描隧道显微镜以其高分辨率(横向分辨率达0.1nm)，使人类第一次能够直接观察到单个原子在物质表面的排列状态以及与表面电子行为有关的物理、化学性质，它开拓了微观世界研究的新领域。 三、扫描探针显微技术 §9-4 机械工况监测 2)振动或噪声监测 在对振动或噪声进行监测时，需要对它们的特性进行分析，寻找振动的起因或噪声源。按表征振动或噪声特性的各种指标选用相应试验方法来评定机械的振动或噪声特性。有关振动与噪声监测的内容已有专门的课程或书籍介绍。 §9-4 机械工况监测 3)性能趋向分析 性能趋向监测是一种把机械系统性能的劣化过程与其产生的后果联系起来分析的方法。根据不同的机械系统，对其性能参数有不同的具体监测要求。 §9-4 机械工况监测 4)磨损产物及污染物监测 目前磨损产物与污染物监测技术主要有以下几种： 1)磁塞检测法。 2)光谱分析法。 3)铁谱分析法。 4)放射性示踪原子检测法。 §9-5 现代测试分析技术 摩擦学研究所应用的主要分析测试技术大体上可分为以下三类 1、摩擦与润滑材料以及涂层的摩擦学性能测试技术 这类技术包括采用各种常规的摩擦、磨损试验机的摩擦学性能测试技术，以及材料的抗擦伤性能、摩擦疲劳性能及冲击摩擦性能等的测试技术。 §9-5 现代测试分析技术 摩擦学研究所应用的主要分析测试技术大体上可分为以下三类 2、摩擦表面测试分析技术 包括表面形态与结构以及相态分析技术，表面成分与原子状态分析技术。 3、磨损微粒分析技术 这种技术包括铁谱技术与光谱技术。 一、固体的表面形态与结构分析 固体表面形态与结构分析主要是指对表面的微观结构、缺陷和原子排列等方面进行观察与分析，一般采用电子显微分析技术和衍射分析技术。 1、电子显微分析技术 电子显微分析技术是采用透射式和扫描式电子显微镜进行表面分析的一种显微分析技术。采用这种技术可以直接观察到摩擦表面(或表面膜)的表面形貌及其破坏特性。 一、固体的表面形态与结构分析 1、电子显微分析技术 它与一般光学显微镜的主要区别在于：它是用电子束来取代光源作为工作媒质，由于电子束的波长为可见光波波长的1／105(约4×10-12m)，因而其分辨能力很高，约为(1~2) ×10-10m，放大倍数较大(20~50万倍)，可直接观察到固体表面的单个分子和晶体结构，甚至金属的原子图像。 一、固体的表面形态与结构分析 (1)透射式电子显微镜 透射式电子显微镜(Transmission Electron Microscope，TEM)通常简称透射电镜，其工作原理和光路图如图。 透视电镜的分辨率一般很高(为1nm，最高可达0.2 nm)，其放大倍数可高达106倍。但其景深(场深)受试样厚度限制，一般为100nm。而且试样的制备较麻烦，要求很薄(一般小于100nm)或制成复型，观察的区域小。 一、固体的表面形态与结构分析 (2)扫描式电子显微镜 扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscope，SEM)，简称扫描电镜。它是继透射电镜之后发展起来的一种电镜，