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XRD S OP
一、 環境注意事項:
1、 檢查冷氣( 空調) 是否在固定的溫、濕度( 24℃~25℃) 。 ( 離開時不用關)
2、 檢查冷卻水的水位是否正常。( 高水位為正常)
3、 打開冷卻機室牆上抽風扇的開關於排氣的位置。( 將開關推至”排”的位置)
4、 電腦開機。
二、 操作流程:
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1、 將系統電源ON按下並確認冷卻水機已同時被啟動,此時右操作面板顯示燈號
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為On( 綠燈) 與Al ar m( 紅燈) 亮起。在正常的系統之中此時Al ar m燈亮起係因高
壓產生器( Gener at or ) 尚未開啟。
2、 開啟高壓產生器: 將開關往左轉並保持3~5秒,帶聽到電磁開關切入聲音或
RE ADY燈停止閃爍( 橘燈) 即可放手。若系統正常則RE ADY與ON的燈號亮起。
注意: 再次檢查冷卻系統水位與壓力是否正常。
3、 標準片粗部掃描流程:
開啟桌面DI FFRAC pl us Measur ement Par t 資料夾
→點選XRD Comma nder
進入量測介面
I 、系統條件設定:
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( 1) 在這各區域內主要控制包含了Goni omet er 上各量測元件的運動,Tube、
Sampl e、Det ect or 間之角度關係。
( 2) 在左邊灰底藍字部分代表他實際的位置。倘若未做出始化將以淡紅色表示。
若出現”13. _ _”代表為大概的位置,並非精確位置,此時可用上方工具列
作初始化動作,機台自動找尋原參考點。成功後將顯現
Tube : 21. 241
2The t a: 5805052 ( 數值均固定,確認無誤可進行下一步)
Det ect or : 37. 0583
注意: 每次開機的第一位使用者,都要做初始化動作,後續若無
開關機動作則無需再初始化。
I I 、繞射條件設定:
注意: 最大電壓與電流為 40kv、40mA
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I I I 、量測範圍條件設定:
注意: Scant ype設定為Locked Coupl ed: 適用於Θ/ 2Θ繞射。
Det ect or scan: 適用於Θ( 低掠角) 繞射。
起始角度設定不可小於 0. 5 度。單晶試片量測時必須先和指導老師
與機台管理者確認並避開超高強度繞射峰位置( 如: 以( 100) 矽為基
板的薄膜試片量測時要避開 68~70 度的角度範圍),若因疏忽造成機
台損害,必須負賠償責任。
I V、量測sampl e:
1、 標準片Al 2O3主peak應出現在35. 149度,確認無誤差則可進行sampl e的量測。
2、 將欲分析sampl e置於hol der 上,放入機台的量測區。
注意: 量測的 waf er 尺寸不可小於 5mmx 5 mm,最大不超出 40 mm x 40 mm,厚
度則不得超過 13 mm。含 Fe、Co、Ni 成分之試片背景雜訊將非常大
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3、 於t ube置入狹縫( sl i t ) ,共有0. 2mm~1. 2mm si l t 可選擇。
置放 Sl i t 時,以凹槽向上並向內的原則置入。
4、 進行sampl e的細部掃描:
開啟桌面DI FFRAC pl us Measur ement Par t 資料夾
→點選XRD Wi zar d
此步驟: 對量測的sampl e作各項條件設定。
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( 注意: 電壓與電流設定為40kv、40mA。)
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完成以上條件設定後,將資料存於C: \ NUK\ CME\ 各實驗室資料夾。
回到XRDComma nde r 介面,同標準片流程對sampl e進行粗部掃描,完成後切換j obs
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頁面。
將剛才使用XRD Wi zar d存的檔叫出來。
PDF
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