电子产品装配与测试课件.pptxVIP

书名：电子产品装配与测试 ISBN： 978-7-111-32814-8 出版社：机械工业出版社 本书配有电子课件;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;任务4 常见电子产品装配与测试;2.集成电路74HC373 74HC373W为三态输出的八D锁存器。 当三态允许控制端OE为低电平，Q0——Q7为正常逻辑状态，可用来驱动负载或总线。当OE为高电平时，Q0——Q7呈高阻态，即不驱动总线。但锁存器内部的逻辑操作不受影响。 当锁存允许端LE为高电平时