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0 exp exp a r r s G G I n g na n kT kT n D D * * 骣 骣 ÷ ? ÷ ? ÷ = ? - - ÷ ? ? ÷ ÷ ? ? ÷ ? 桫 桫 P :受成核位垒影响的成核率因子(相变因素) D :受质点扩散影响的成核率因子(扩散因素) =B· D· P P D I v T I v = P· D ? 当 T ↓时, ? T=T 0 - T↑, 即:成核位垒↓, P 因子↑,成核速 率I↑直至最大值; ? 因此, I 与 T 的关系是曲线 P 和 D 的综合结果,在 T 低时, D 因 子抑制了 I 的增长; T 高时, P 因子抑制了 I 的增长。 只有在合 适的 ? T 下, P 与 D 因子的综合结果使 I 有最大值。 ? 若 T 继续↓,原子或分子扩散速率↓, ? G m ↑, D 因子↓,成核速率I↓ ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 16 3 1 16 3 1 2 2 2 0 3 2 3 T H T n G n G V K ? ? ? ? exp G I kT D 骣 ÷ ? ? ÷ ? ÷ ? 桫 0 exp r r s Ga G I n g na n kT n D D * * 骣 + ÷ ? ÷ = ? - ? ÷ ? ÷ 桫 成核的形成势垒 迁移克服的势垒 u u ΔT Iv Iv 成核、生长速率与过冷度 的关系 高温时, T↑ ,质点 的 相互吸引而聚结 及吸附能力 ↓ , P↓ , I↓ ; 低温时, T↑ , D↑ , I↑ 。 讨论 I-T 关系 ? 当晶核和晶核剂有相似的原子排列时,质点穿 过界面有强烈的吸引力,对核化最有利。 非均态核化的速率可表示为: exp .................(8.31) h S S G I K kT ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 当晶核对晶核剂接触角越小,越有利于晶核的 生成。 结论: 如果 新相和母相(熔体)组成相同 时,那么控制生 长速度的过程将是原子由母相穿过界面跃迁于新相上这 一 短程扩散 。 当 析出的晶体与母相(熔体)组成不同 时,如:过 饱和固溶体的脱溶分解,需要构成晶体的组分从母相长 距离迁移到达新相-母相界面过程,再通过界面跃迁才 能附着于新相表面,即 长程扩散过程 。 § 8.2.3 晶体生长速率 晶体生长是界面移动的过程, 生长速率与界面结 构及原子迁移密切相关 。 (界面控制) (扩散控制) 熔体 临界晶胚 稳定晶核 长大晶粒 界面控制型生长 1 2 晶体的生长过 程类似于 扩散 过程 ,它取决 于分子或原子 从液相中分离 向界面扩散和 其反方向扩散 之差。 因此,质点从液相向晶相迁移速率: 从晶相到液相反方向的迁移速率为: 0 exp( ) l s a dn G fsv dt kT ? ? ? ? 0 [ ( )] exp{ } s l a V dn G V G fsv dt kT ? ? ? ? ? ? 因此,从液相到晶相迁移的 净速率 为: 0 ( ) exp( )[1 exp( )] l s s l a V dn dn G V G dn fsv dt dt dt kT kT ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ( 2 )当 Δ T 很大时, kT 晶体线性 生长速率 u 等于单位时间迁移的原子数目 除以界面原子数 S ,再乘以原子间距 λ , ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? kT G V kT G f U v a exp 1 exp 0 ?? 讨论: ( 1 )当 ΔT→0 时, kT 0 ( ) exp( ) V a V G G U f v kT kT ? ? ? ? ? ? ?? fD kT G f U a ?? ? ? ? ? ? ? ? ? ? exp 0 V G V ? V G V ? 乌尔曼的实验结果: 在熔点时生长速率 为零。 高温阶段: 主要由 液相变成晶相的速率控 制,增大过冷度,对过 程有利,故生长速率增 加; 低温阶段 : 过程主要 由相界面扩散所控制, 低温对扩散不利,故生 长速率减慢。 8.1 相变概述 8.2 液-固相的转变 (成核 -
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