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材料结构表征与应用
杨祖培
E-mail:yangzp@snnu.edu.cn
第一章绪论
材料、信息和能源是现代文明的三大支柱,
又把新材料、信息和生物技术作为新技术革命
的主要标志
材料作为一门学科,与其他学科最大的不
同点是其本身就是多学科交叉的新兴学科
现代材料科学的发展在很大程度上依赖对
材料性能和其他成分结构及微观组织关系的理
解。因此,对材料性能的各种测试技术;对材
料在微观层次上的表征技术,构成了材料科学
的一个重要组成部分。
第一章绪论
材料的现代分析方法是关于材料的成分、结
构、微观形貌与缺陷等的现代分析、测试技术及
相关的理论基础的科学
材料现代分析、测试技术的发展,使得材料
分析不仅包括材料(整体)成分、结构分析,也
包括材料表面与界面分析、微区分析、形貌分析
等诸多内容。材料分析方法也不仅是以材料成分、
结构等分析、测试为唯一日的,而是成为材料科
学的重要于段,广泛应用于研究和解决材料理论
和工程实际问题。
第一章绪论
材料分析是通过对表征材料的物理性
质或物理化学性质参数及其变化(称为测量
号或表征信息)的检测实现的。即材料分
析的基本原理(或称技术基础)是指测量信
号与材料成分、结构等的特征关系。采用各
种不同的测量信号形成了各种不同的材料分
析方法
材料结构的表征(或材料的分析方法)
就其任务来说,主要有三个,即成分分析、
结构测定和形貌观察。
第一章绪论
材料的化学成分分析除了传统的化学分析技术外
还包括质谱(MC)、紫外(UV)、可见光、红外(IR)
光谱分析、气、液相色谱、核磁共振、电子自旋共振
次离了色谱、×射线荧光光谱、俄歇与Ⅹ射线光电子
谱、电子探针等
如质谱已经是鉴定未知有机化合物的基本手段;IR
在高分子材料的表征上有着特殊重要地位;特别是近
年来对材料的表面优化处理技术的发展,对确定表面
层结构与成分的测试需求更为迫切。一种以X射线光电
子能谱、俄歇电子能谱为代表的分析系统的使用日益
要。如×射线光电子能谱(XPS)是用单色的射线
轰击样品导致电子的逸出,通过测定逸出的光电子可
以无标样直接确定元素及元素含量
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