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SPC品质控制方法及应用QA技术员（工程师）培训系列  Content 案例分析 SPC的产生 工业革命以后， 随着生产力的进一步发展，大规模生产的形成，如何控制大批量产品质量成为一个突出问题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。 1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”，对过程变量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。 SPC常用术语解释 SPC常用术语解释 SPC常用术语解释 确定客户的需求 采购 IQC（来料质量控制） 生产(印刷, 组装等) IPQC/OQC 在线质量及出货质量保证 包装,入库 OBA （开箱检查） 出货 售后服务 产品的品质控制内容、质量标准、控制方法 SPC统计过程控制 选用正确的控制图 管制图类型 均值和极差图（X-R） 1、收集数据 以样本容量恒定的子组形式报告，子组通常包括2-5件连续的产品，并周性期的抽取子组。 注：应制定一个收集数据的计划，将其作为收集、记录及描图的依据。 1-1 选择子组大小，频率和数据 1-1-1 子组大小：一般为5件连续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过程流等。（注：数据仅代表单一刀具、冲头、模具等生产出来的零件，即一个单一的生产流。） 1-1-2 子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在 的变化，这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班2次，或一小时一次等。 1-1-3 子组数：子组越多，变差越有机会出现。一般为25组，首次使用管制图选用35 组数据，以便调整。 1-2 建立控制图及记录原始数据 （见下图） 1-3、计算每个子组的均值（X）和极差R 对每个子组计算： X=（X1+X2+…+Xn）/ n R=Xmax-Xmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?为子组内的每个测量值。n 表示子组的样本容量 1-4、选择控制图的刻度 1-4-1 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值。 1-4-2 刻度选择 ： 对于X 图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值（X）的最大值与最小值的差的2倍，对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。 注：一个有用的建议是将 R 图的刻度值设置为 X 图刻度值的2倍。 （ 例如：平均值图上1个刻度代表0.01英寸，则在极差图上 1个刻度代表0.02英寸） 1-5、将均值和极差画到控制图上 1 -5-1 X 图和 R 图上的点描好后及时用直线联接，浏览各点是否 合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。 1- 5-2 确保所画的X 和R点在纵向是对应的。 计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限 。 2-1 计算平均极差（R）及过程均值（X） R=（R1+R2+…+R k）/ k（K表示子组数量） X =（X1+X2+…+X k）/ k 2-2 计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均 值和极差的变化和范围。控制限是由子组的样本容量以及反 映在极差上的子组内的变差的量来决定的。 计算公式： UCLx = X+ A2 R UCLR=D4R LCLx = X- A2 R LCLR=D3R 注：式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数值 见下表 ： 2-3 在控制图上作出均值和极差控制限的控制线 平均极差和过程均值用画成实线。 各控制限画成虚线。