原子力显微微镜原理及应用.pptVIP

Atomic Force Microscopy 原子力显微镜(AFM) 目录: AFM的发展历史 ■AFM的原理 AFM的分类 AFM机器的组成 影响AFM分辨率的因素 AFM技术应用举例 照片举例 AFM的缺点 高级显微镜 1938年,德国工程师 Max Kno l和 Ernst Ruska 制造出了世界上第一台透射电子显微镜(TEM) ■1952年,英国工程师 Char es0 atley制造出了 第一台扫描电子显微镜(SEM) 至此,电子显微镜的分辨率达到纳米级 1983年,IBM公司苏黎世实验室的两位科学家 Gerd binnig和 Heinrich rohrer发明了扫描隧 道显微镜(STM) 应用电子的“隧道效应”这一原理,对导体或 半导体进行观测 隧道效应 典物理学认为,物体越 阈值能量;粒子能量小 鍰量刿甭螃过如棄玻 则可以走 也能靠惯性过去。 如果坡很高,不蹬自行车 半就停住,然后退回去。 量子力学则认为,即使粒子能量小于阈值能量,很多粒子冲向 势金,一部分粒子反弹,还会有一些粒子能过y想 在犧观空崔在就具有桶是 隧道效应 为趣 在通常的 极小,但在 某些特丁的条件下宏观的隧道效应也会出现