半导体测试解决方案.PDFVIP

  • 9
  • 0
  • 约1.35万字
  • 约 12页
  • 2020-08-26 发布于浙江
  • 举报
半導體測試解決方案 /semiconductor 簡化半導體測試作業 半導體產業自發展之初,奉行的原則就是持續改善效能與降低成本,換句話說,就是以有限的成本發揮最高價值。不 過,除了裝置日趨複雜、產品週期縮短、無情的成本壓力外,測試在整體 IC 成本中所佔的比例也不斷成長,成為產品開 發週期中不容忽視的一環。 許多半導體的檢驗與特性實驗室,都依賴機架堆疊設備搭配大量的手動測試程序,而生產測試單位則使用完整、高效能 的昂貴自動化測試設備。從實驗室到產線的技術差距,使得整體的測試成本難以降低。因此最佳的系統優化應透過通用 的單一測試平台,可因應設計檢驗到生產測試而隨時調整、讓設計與測試部門可輕鬆共用資料、以現有的半導體技術搭 配最新功能,進而降低成本。 我們的舊系統成本大約是 $450,000 美元,至少需要 10 kW 功率,體積為 5x8 ‘‘ 平方英呎,還得放在 6 英呎高的機架上,重量則是4,000 磅左右。NI PXI 測試 器的成本大約是 $40,000 美元,最多只需要 600 W 功率,重量只有 60 磅,單 一機箱大小約為 18 x 24 吋。 ’’

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档