CP测试简单介绍 .ppt

CP测试简介 CP测试的意义和作用 提高FT yield，降低封装成本。 帮助foundry控制工艺。 裸片测试。 CP测试的工具 prober ATE 探针 Probe card固定在load board上面，一起装在ATE上面。 装上load board后ATE的测试头翻转，如右图，然后扣在prober上面 Probe card制作前的准备工作 1.选ATE和prober。 prober 厂家 TEL,TSK,EPSON 国内装机比较多的是TEL-P8,P12,TSK-UF200,UF3000 2.同测数和芯片PAD的坐标数据。 3.Load board和probe card制作厂家的选择。 probe card的制作厂家 (1)日本厂家有JEM,MMS(旺杰芯),TCL (2)美国厂家PROBER LOGIC,KNS,CASCADE,multitest (3)台湾probeleader,上海菁成 (4)国产沈阳的圣仁, 上海依然,江阴JCAP 根据针的数目，PAD的尺寸和间距来选择合适的厂家，一般都能做到10um精度，但是5um以下的精度就要选择比较好的厂家。 探针材质选择 钨针： 优点：成本低，硬度/抗疲劳性佳，寿命长。 缺点：易沾粘异物或化学物质造成阻抗增加，且不适用高电流测试。 铼钨针： 优点：硬度/抗劳性佳，稳定度佳适合