X射线能量色散谱 EDS最终版.pptVIP

X射线与Si（Li)晶体相互作用产生一个电子—空穴对所需的能量?=3.8 eV。能量为E的一个X光子产生的电子—空穴对数为： n=E/? 相应的电荷量： Q=ne=(E/?)e 这些电荷在电容CF上形成的电压脉冲信号：V=Q/ CF 这就是一个代表X光子能量的信息。 如：Fe的K?线的能量为6.4 keV, 一个Fe的K?光子能产生1684个电子—空穴对，相应的电荷为2.7?10-16C, 若CF=1pF, 则V=0.27mV。 .......... * 在检测器两端得到的电荷脉冲信号经过预放大器积分成电压信号并加以初步放大，主放大器将此信号进一步放大，最后输入单道或多道脉冲高度分析器中，按脉冲电压幅度大小进行分类、累计，并以X射线计数(强度)相对于x射线能量的分布图形显示打印出来． .......... * 三、用XEDS对样品成分进行分析 1、定性分析： 利用X射线谱仪，先将样品发射的X射线展成X射 线谱，记录下样品所发射的特征谱线的波长，然后根 据X射线波长表，判断这些特征谱线是属于哪种元素 的哪根谱线，最后确定样品中含有什么元素． .......... * 2、定量分析 定量分析时，不仅要记录下样品发射的特征谱线的波长，还要记录下它们的强度，然后将样品发射的特征谱线强度(只需