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信 息 检 索;1;1 1;2 2;3 3;4 4;5 5;泥质岩背散射电镜粒度分析实验
得背散射电子信号真正有效地反映晶体内部的结构特征。将抛光之后的样品切割成长 宽分别为 1cm 以内的小片。
(3)镀膜：由于岩石样品不导电，因此，为了便于观察和获取更好的信号需要在样
品表面镀膜。由于背散射电子获取的信号是样品表面 10nm 以内的晶体结构信息，因 此样品膜的厚度需要严格掌握，本次试验在样品表面镀一层 3nm 以内的金膜（镀膜时 间 25 秒）。
完成上述的样品制备过程之后，对其进行扫描电镜下的观察并拍照。拍摄的照片
具有不同尺寸，小倍数图像能够进行整体的观察和统计粒度，大倍数对颗粒的成分进 行分析[15]。;泥质岩背散射电镜粒度分析实验;泥质岩背散射电镜粒度分析实验;9 9;10 1;11 1
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