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测试规范适用范围本规范为导入芯片的测试方法和标准以验证和确认新物料是否适合批量生产目的使开发部门导入新的关键器件过程中有章可循有据可依可靠性测试如果替代料是勺话我们一般需要做个循环的拷贝校验我们测试工具设置拷贝次数重启次如果替代料是勺话我们也需要验证运行稳定性那么也需要做循环拷贝校验测试工具设置拷贝次数重启次拷贝次数可用容量验证只需要验证运行稳定性所以一般做个循环就了求比较严格一般需要做个循环以上考虑到压力测试超过次以上可能会对造成影响故对于验证次数太多的机器出货前需要更换常温老化我们一般跑模拟
测试规范
适用范围
1.1本规范为导入 DDR芯片的测试方法和标准，，以验证和确认新物料是否适合批量生 产；.
目的
2.1使开发部门导入新的关键器件过程中有章可循，有据可依。
3.可靠性测试
6.1 :如果替代料是FLASH勺话，我们一般需要做10个循环的拷贝校验
（我们测试工具APK设置：500M/拷贝次数/重启10次）
6.2 :如果替代料是DDR勺话，我们也需要验证DDRS运行稳定性，那么 也需要做循环拷贝校验（测试工具 APK设置：500M拷贝次数/重启5次）
PS : 1.拷贝次数=（FLASH可用容量 *1024M/500M） -1
2.DDR验证只需要验证运行稳定性，所以一般做
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