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工程硕士：工程硕士论文精选3篇  工程硕士论文一：基于FPGA的混合信号芯片测试系统设计  第 1 章 绪论  1.1 研究背景 在过往的几十年中，由于现代通讯系统的爆炸性发展，越来越多地采用混合信号的设计，将数字和模拟元件集成在单个芯片上，以提高性能并降低电路板尺寸和成本。这对集成电路芯片的测试工作提出了非常严峻的挑战，随着集成电路工作频率的不断提高，在混合信号器件的生产中，测试作为一个重要的限制因素，对制造成本有很大影响，同时为了保证芯片在应用上的可靠性，这些芯片的测试与测量又是必不可免的[1-2]。 现代电子系统以数字方式处理和存储信息。但是，由于世界的模拟性质，从模拟到数字和从数字到模拟的转换是总是不可避免地由数据转换器执行：模数转换转换器（ADC）和数模转换器（DAC）。在数模混合信号芯片中，虽然模拟部分和数字部分放在同一基底上，使得整个系统的性能和成本可以达到最优，但是却给数模混合信号芯片的测试带来了巨大的困难。同时，数字系统的 EDA 软件远远先进于模拟系统和数模混合系统，混合信号系统的测试和建模非常困难[3]。根据各种因素，包括技术规格，系统分区，和市场需求，数据转换器可以集成在同一芯片上，或在同一封装上，与其他模拟或数字块一起，或者它们可以独立。大多数独立的数据转换器是 13-16 亿美元标准的一部分模拟市场，还包括放大器，比较器，以及接口和电源管理设备。事实上，数据转换器构成了这个市场的 16％，但它们是生长速度比其他组件快，仅次于电源管理设备，单位出货量从 2010 年的约 29 亿台估计到 2015 年的销量约为 47 亿台。这还不算嵌入式数据转换器与数字信号处理器（DSP）的各种应用，范围从消费电子（例如音频设备，手机，成像设备，DVD 和多媒体播放器等）,嵌入式控制器，过程控制和仪表。 DAC 和 ADC 作为典型的数模混合信号芯片，其内部分为数字模块和模拟模块，作为数字和模拟相互转换的关键一环，其重要性不言而喻。如上所述，基于数字信号处理（DSP）的系统需要 ADC 和 DAC，以便其能够交换信息或控制过程物理模拟世界。现如今移动通信系统已经进入 4G 时代，相对于 3G 时代，系统前端的射频频率更高，网络频谱更宽，对于 ADC、DAC 的性能要求也越来越高。由此数据转换器必然朝着高速度高精度的方向不断发展。相应的高速高精度测试系统也越来越重要，只有在测试的过程中不断地发现问题才能提高设计的稳定性和验证设计的正确性。 随着数模混合信号芯片的速度和精度的提高，对于测试系统的数字信号传输有了更高的要求。由于高速信号的周期较短易受干扰（如电磁辐射和串扰），对于 PCB 设计者来说无疑增加了一定挑战。同时测试系统还需要具备传输、分析和存储这些大吞吐量的高速数据流的能力。因此对于高速高精度数据转换器的测试系统设计具有相当的难度。 ........  1.2 国内外研究现状 对于集成电路芯片而言，高速模数转换器和数模转换器的设计和应用最为复杂，这些芯通常需要应用在军事和通讯领域上，对其性能和高低温的稳定性有着非常高的要求，同时还要不断地提高芯片的工作频率，并且保证芯片的性能不断提升。因而对于这些高速高精度数据转换器的通用测试平台设计是非常重要和必需的。而在这一方面国外的设计经验是非常成熟的，常用的方法是通过逻辑分析仪分析传输过程中的高速信号，比较成熟的有安捷伦，泰克和力科等仪器仪表公司。在测试过程中用逻辑分析仪的探头抓取数字信号，分析其时域和频域的性能，然后通过网口或硬件存储设备转移到 PC 机上进行进一步分析。目前国外的很多公司（主要有 德州仪器半导体、亚德诺半导体 和 Maxim 等）和高校都有对高性能数据转换器的测试进行研究，其主要研究方向为可测性设计(DFT)与内置自检(BIST)技术，同时芯片测试还包括静态测试和动态测试。 数据转换器作为一块重要的市场，国外的发展一直是领先于国内的，而美国的 ADI和 TI 公司几乎占据了大部分全球市场份额，尤其是在高速高精度数据转换器方面，ADI几乎占据了 80%的市场，与此相对应的每款产品,ADI 都会提供相应的 DEMO 板、测试方案和 PC 机上的软件测试界面。以 ADI 的模数转换芯片 AD9694 为例，该芯片为四通道 14 位高速模数转换器，最高可以工作在 500MSPS 的条件下，该芯片采样 305 MHz，1.80 V p-p 输入范围信号的 SFDR 可达到 82 d BFS,SNR 达到 66.8 d BFS，并支持子类 1 JESD204B 高速串行数字输出，为通信系统，雷达航天领域提供了高达 1.4 GHz 的宽带模拟信号采样。如图 1.1 所示，为 AD9694