电法测井简介合集.pptVIP

* 理论研究： 井壁电成像测井的数值仿真； 井壁电成像测井的物理模拟与试验； 井壁电成像测井的图像处理技术及资料定量评价； 理论研究与资料应用 * 电成像测井仪电路结构框图 * 电成像测井仪工作原理 * 信号检测原理 * 微电阻率扫描处理解释流程 文件 用户 数据预处理 图像生成 沉积和构造分析 参数计算 岩心图像分析 声电成像地质交互分析 裂缝交互提取处理 地应力分析处理 综合地质成果输出 解释分析和成果输出 XTF 格式 数据加载模块 LIS DLIS 格式 716 格式 ASCII 格式 加速度校正 电扣深度对齐 EMEX电压校正 LLS/SFL电阻率标定 数据均衡处理 死电扣校正 生成静态图像 生成动态图像 直方图增强 * ERMI与XRMI、STARⅡ对比图像 * 自主研制ERMI图像 进口仪器XRMI图像 ERMI与XRMI图像对比 * ERMI与FMI图像对比 * 电成像测井的应用 该层测试结果产气6万多方/日 龙会3井 石炭系 高角度天然缝 * 裂缝识别与评价方法 钻井取心：测井识别裂缝最有效的方法是成像测井(声电 成像)和双侧向测井。这两种方法均有优缺点。 成像测井：能直观解释裂缝，并能识别裂缝类型、产状，不足之处就是测井费用高。 双侧向测井：测井费用低，但识别裂缝精度较低。 难点:在没有钻井取心和成像测井资料的情况下，如何利用双侧向测井资料识别裂缝？ * 缝洞性碳酸盐岩储层测井评价技术 储层、裂缝识别 低孔裂缝型储层：成像测井裂缝发育，常规三孔隙度测井显示不明显，如没有成像测井，储层、裂缝识别困难 * 裂缝识别—电阻率下降 * 裂缝识别—电阻率反向 * 由于双侧向测井探测深度比三侧向深，同时，深、浅双侧向的纵向分层能力相同，因此，曲线便于对比。 划分岩性剖面：可用双侧向曲线对地层进行大致划分。 确定地层真电阻率及孔隙流体性质。 判断油水层 双侧向测井简介 * 双侧向测井简介 * 双侧向测井原理示意图 * 项目研究的目的、意义、 技术发展现状 项目研究目标、内容、关键技术、技术路线 项目技术、经济效益分析 项目实施计划、经费预算、考核指标 项目分工、管理及必要的支撑配套条件 项目组成员及分工 标准模式测井原理 * 项目研究的目的、意义、 技术发展现状 项目研究目标、内容、关键技术、技术路线 项目技术、经济效益分析 项目实施计划、经费预算、考核指标 项目分工、管理及必要的支撑配套条件 项目组成员及分工 增强模式测井原理 * 当上下围岩的电阻率相同时，双侧向测井曲线关于地层中心对称。随地层厚度的减小，围岩电阻率对视电阻率的影响增加。若围岩电阻率小于地层电阻率，则视电阻率小于地层电阻率；反之，若围岩电阻率大于地层电阻率，则视电阻率大于地层电阻率。在这两种情况下，二者差异均随地层厚度的减小而增加。 读取数据的方法：取地层中点的视电阻率值或取地层中部的几何平均值。深侧向视电阻率曲线主要反映原状地层的电阻率；而浅侧向视电阻率曲线主要反映侵入带的电阻率。 双侧向测井曲线的应用 * 与普通电阻率测井类似，深、浅侧向测量结果也是地层视电阻率，与地层电阻率有一定差异，为了利用双侧向视电阻率确定地层的真电阻率，需考虑双侧向视电阻率的影响因素。 根据测量原理及测量环境，可把影响因素归结为井眼（井眼尺寸、井内介质的电阻率）、围岩—层厚（围岩电阻率、地层厚度）、侵入（侵入特征、侵入半径）。 应用图版或相应的计算公式，即可对双侧向视电阻率按上述顺序依次进行校正，得到地层电阻率。 双侧向测井曲线的应用 * 双侧向测井曲线的校正 * 双侧向测井曲线的校正 * 双侧向测井曲线的校正 * 方位侧向测井仪 * 方位侧向测井仪 * 深侧向和方位 电阻率 浅侧向和方位 电阻率 方位侧向测井仪 * 高分辨率深模式 辅助模式 方位侧向测井仪 * 阵列侧向测井仪 * 阵列侧向测井仪 * 阵列侧向测井仪 * 阵列侧向测井仪电场分布 * 阵列侧向测井仪曲线差异性分析 * 阵列侧向测井曲线示例 * 总体介绍：为什么需要电成像测井？ 水基泥浆电成像测井仪 油基泥浆电成像测井仪 电阻率成像测井仪器 * 所谓成像测井技术，就是在井下采用传感器阵列扫描测量或旋转扫描测量，沿井眼纵向、周向或径向大量采集地层信息，传输到地面后通过图像处理技术得到井壁或井周的二维图像或井眼周围某一探测深度以内的三维图像。 特点是比常规测井方法更精确、直观、方便，为解决非均质问题提供了有力工具。电成像测井是复杂岩性（包括碳酸盐岩）孔洞、裂缝性储层精细评价的技术保障。 主要用途如下： （1）帮助岩芯定位与描述 （2）缝洞性储层评价 （3）局部构造特征分析 （4）沉积现象识别与分析 （5）地应力分析 项目概