2018高中物理选修3-4学案：第5章 第2讲 学生实验：用双缝干涉测量光的波长教科版.docxVIP

2018?年高中物理创新学案含解析 第?2?讲 学生实验：用双缝干涉测量光的波长 [目标定位] 1.了解用双缝干涉测量光的波长的实验原理.2.知道影响干涉条纹间距的因 素.3.观察白光及单色光的干涉图样.4.能够利用双缝干涉实验测量单色光的波长． 相邻两条亮条纹(或暗条纹)的间距是 相邻两条亮条纹(或暗条纹)的间距是?Δx＝??λ，根据这个公式，可以得出单色光的波长． 尺的读数?xn，则相邻两条亮条纹(或暗条纹)之间的距离为?Δx＝??n x?－x1 n－1 l d 二、实验器材 双缝干涉实验仪(主要部件有遮光管、照明系统、双缝、观察筒及测量头．照明系统是 指光源灯泡、透镜、遮光板，单缝及滤光片，测量头包括游标尺、分划板、滑块座、滑块、 目镜、手轮等)． 三、条纹间距?Δx?的测定 (测量时，先移动测量头上的手轮，把分划线对准某一条亮条纹?或暗条纹)，并记下它在 ( 游标尺上的读数?x1，然后转动手轮，把分划线对准第?n?条干涉亮条纹(或暗条纹)，记下游标 . 想一想 实验中为什么不直接测出相邻两条亮条纹间的距离?Δx，而要测出?n?个亮条纹 间的距离，再求平均值？ 答案 由于光的波长很小，实验中条纹宽度很小，直接测出一条条纹的宽度不准确或较 难实现，只能先测出?n?个条纹间距，再求相邻亮条纹间的距离，这样既便于测量，又可以减 小误差． 表示，则入射光的波长为? 表示，则入射光的波长为?λ＝?dΔx.实验中?d?是已知的，测出?l、Δx?即可测出光的波长?λ. 1．光源发出的光经滤光片成为单色光，单色光通过单缝后相当于线光源，经双缝产生 稳定的干涉图样，通过屏可以观察到明暗相间的干涉条纹． 2．若双缝到屏的距离用?l?表示，双缝间的距离用?d?表示，相邻两条亮条纹间的距离用?Δx l 二、实验步骤(如图?1?所示为安装仪器示意图) 1 2018?年高中物理创新学案含解析 x?－x1 x?－x1?????????????? d·Δx d?xn－x1 距离为?Δx＝??n .待测的光波波长为：λ＝??? ＝??·???? .式中?d?为双缝中心距离，其数值 1．把遮光管架在支架环上，其轴线与光具座的导轨基本平行． 2．在遮光管的一端装上双缝，并转动双缝座，使双缝与水平面垂直．再装好单缝管． 3．让灯泡灯丝及透镜中心与单缝中心等高．灯丝与单缝之间的距离约为?25?cm.点亮灯 泡，上下或左右调节灯泡，使灯丝的放大像及缩小像均成在单缝中心． 4．在遮光管的另一端装上测量头．在单缝管上装上拨杆，边观察，边左右移动拨杆， 以调节单缝与双缝平行，直至看到白光的干涉条纹最清晰． 5．测量单色光波长时，在单缝前面加上红色或绿色滤光片即可看到红黑相间或绿黑相 间的干涉条纹，再调节目镜，就能同时清晰地看到分划线和干涉条纹，然后绕光轴转动测量 头，使分划线与干涉条纹平行，固定好测量头后即可进行测量． 6．先移动测量头上的手轮，把分划线对准最左边的一条干涉亮条纹或者暗条纹，并记 下它在标尺上的读数?x1，然后转动手轮，把分划线移向右边，并对准第?n?条(一般?n?可取?7 左右)干涉亮条纹或者暗条纹，这时游标尺的读数为?xn，则相邻两条亮条纹或暗条纹之间的 n－1 l l?n－1 刻在双缝座上，一块为?0.250?mm，另一块为?0.200?mm.l?为双缝至光屏(即分划板)之间的距 离，当遮光管未接长管时，l＝600?mm；当遮光管接上长管后，l＝700?mm. 7．改变双缝间的距离?d，重复上面步骤，再测量一次． 例?1 某同学用单色光进行双缝干涉实验，在屏上观察到图?2?甲所示的条纹，仅改变 一个实验条件后，观察到的条纹如图乙所示．他改变的实验条件可能是( ) 解析 由甲和乙两图可知改变条件以后条纹变宽，由? 解析 由甲和乙两图可知改变条件以后条纹变宽，由?Δx＝??λ?可知，只有?B?正确． A．减小光源到单缝的距离 B．减小双缝之间的距离 C．减小双缝到光屏之间的距离 D．换用频率更高的单色光源 l d 答案 B 三、注意事项与误差分析 2 距离?Δx＝??? .Δx?利用测量头测量．可利用“累积法”测?n? 距离?Δx＝??? . Δx?利用测量头测量．可利用“累积法”测?n?条亮条纹间的距离?a，再求?Δx＝ n－1 1．注意事项 (1)单缝、双缝应相互平行，其中心位于遮光筒的中心轴线上，双缝到单缝的距离应相 等． (2)测双缝到屏的距离?l?时用毫米刻度尺多次测量取平均值． (3)测条纹间距?Δx?时，用测量头测出?n?条亮条纹间的距离?a，求出相邻两条亮条纹间的 a n－1 2．误差分析 实验中的双缝间距?d?是器材本身给出的，因此本实验要注意?Δx?的测量．光波的波长很 小，Δx?的测量对波长的影响很大． a ，并 且采用多次测量求