行标《铈掺杂钆镓铝石榴石闪烁多晶体》送审稿编制说明.doc

行业标准 《铈掺杂钆镓铝石榴石多晶闪烁体》 《送审稿》编制说明 一、工作简况 1立项目的和意义 1.1 立项的背景和必要性 闪烁体是一类可实现高能射线或粒子向紫外-可见光转换的光功能材料，是计算机断层扫描仪（CT）等高端医疗影像装备的功能核心。以医疗CT为例，若将整台CT设备比作人脑的视觉识别系统，那么探测器就是人的眼睛，而能实现X射线向可见光转换的闪烁材料则相当于视网膜上的感光细胞，产生的光信号首先被光电二极管或光电倍增管转换为电信号，然后再由DAS数据采集系统转换成数值信号，最终通过图像重建形成三维图像。从一定程度上讲，CT的成像质量、探测效率以及灵敏度等性能都是由探测器所采用的闪烁材料直接决定。因此，高性能闪烁材料开发也成了探测器乃至整个CT系统的关键内容之一。同时，随着CT技术的发展，低X 射线剂量以及快速扫描已成为CT 发展的主要方向之一，这也是“绿色诊疗”的重要内涵。由于CT等影像装备的成像质量、探测效率以及灵敏度等均由探测器材料的性能决定，高性能闪烁材料的开发将是探测器乃至整个影像系统的关键内容之一。 1.2国内外研究开发现状和发展趋势 高性能闪烁体如医疗CT探测器用闪烁材料研发与生产，此前一直被一些国外公司所主导。这些跨国公司（GE、Philips以及Siemens等公司，号称GPS）凭借技术优势，使得出口到中国的高端医学影像诊疗设备售价极高，形成了高昂的垄断利润。目前，已经商用的三款应用于医疗CT探测器的材料均为闪烁陶瓷，美国GE公司在1984年首先研发了稀土Eu掺杂的(Y,Gd)2O3（Hilight）闪烁陶瓷，取代了早期的液态氙闪烁体，使得CT成像质量出现了质的飞跃。然而，Hilight闪烁陶瓷一个最大的不足在于其衰减时间较长（约为1 ms），大大限制了CT的检测速度。之后，日本的Hitachi以及德国的Siemens先后制备出Pr掺杂的Gd2O2S（GOS）闪烁陶瓷，也同样用于各自的商用CT设备。GOS闪烁陶瓷的衰减时间相对于Hilight大大缩短（约为3.2 μs），但由于GOS属于六方晶系，陶瓷只能呈半透明，而且具有更差的抗辐照损伤能力。为了满足CT快速扫描以及低X射线剂量的发展要求，GE公司于2008年又研发了新一代石榴石闪烁陶瓷（Gemstone，宝石），它被公认为目前综合性能最佳的CT探测材料，最近推出的256排Revolution CT装备的就是该闪烁陶瓷。Gemstone属于立方晶系，对自身发射出的光散射或吸收较少，而且衰减时间、抗辐照损伤以及余辉等闪烁性能相对GOS都有明显提高，但光产额相对于后者还有些许差距。此外，由于大量采用昂贵的Tb、Lu稀土元素，导致材料成本超过3000 $/kg，大大提高了设备的整体成本。 除了上述几大公司外，国外的高校与研究机构也一直在探寻性能优越的闪烁材料用于CT探测器。近年来，Ce掺杂的铝酸盐石榴石闪烁体及其性能调控一直是国际上的研究重点。其中，Ce:Lu3Al5O12（Ce:LuAG）由于具有密度高（6.7 g/cm3）、衰减时间短（60-80 ns）以及光产额高（26000 photons/MeV）等特点，被认为是一种具有潜在应用价值的闪烁材料，受到了广泛关注。但放射性同位素176Lu的存在伴随着自身的离子辐射，对其它高能射线的探测有一定影响，而且成本较高，并不是最理想的CT探测材料。因此，一些研究者考虑用Gd取代Lu，制备成Ce:Gd3Al5O12（Ce:GAG），但目前未见成功。为了稳定晶体结构并改善闪烁性能，美国Lawrence Livermore国家实验室在Gd和Al的位置上分别用Y、Ga等离子部分取代，形成(Gd,Y)3(Ga,Al)5O12，其光产额提高到55000 photons/MeV，能量分辨率也达到4.59%@662 keV，但采用的是凝胶注模成型工艺，不太适合工业化生产。日本九州工业大学的Yanagida用Gd全部取代Lu，Ga部分取代Al，制备出Ce:Gd3Al2Ga3O12（Ce:GAGG）闪烁陶瓷，光产额达到了目前氧化物材料的最高值70000 photons/MeV，远超日本Furukawa公司生产的同组分单晶材料（光产额超过40000 photons/MeV，闪烁衰减时间约为52 ns）。但他们同时也指出由于工艺难度较大，因此离应用还有很大距离。 国内在闪烁材料制备方面也做了许多工作，优势主要集中于单晶材料，并获得了国际上的广泛认可，然而目前国内市场上尚未出现一款能够满足医疗CT探测器用的闪烁材料。例如，中科院上海硅酸盐研究所生产的锗酸铋BGO闪烁晶体，在欧洲核子中心的大型正负电子对撞机中的L3探测器以及GE公司PET器件上都得到了很好的应用，但由于BGO单晶的光产额与密度相对较低，因此不适于CT探测器。 随着我国国民经济