(完整word版)X射线衍射分析技术(历年真题及答案).docxVIP

X 射线衍射分析技术——硕士生考试试卷 2008.11.11 简述 X 射线法精确测量晶格常数的方法原理与应用。 方法原理： X 射线衍射法测量点阵常数，是利用精确测得的晶体衍射峰位 2θ角数据，根据 布拉格定律 2dsin θ=λ和点阵常数（ a， b， c）与晶面间距 d 的关系计算出点阵常数。 应用 ：点阵常数是晶态材料的基本结构参数。 它与晶体内质点间的键合密切相关。 它的变化 是晶体成分、应力分布、 缺陷及空位浓度变化的反映。通过精确测量点阵常数及其变化，可 以研究固溶体类型、固溶度、密度、膨胀系数、键合能、相图的相界等问题，分析其物理过 程及变化规律。 但是，在这些过程中， 点阵常数的变化一般都是很小的 （约为 10-4 埃数量级）， 因此必须对点阵常数精确测量。 为什么说 X 射线衍射线的线性与晶体材料的微晶尺寸有关？简述通过线性分析法确定微晶尺寸的方法原理与应用。 关联 ：（ P169）干涉函数的每个主峰就是倒易空间的一个选择反射区。三维尺寸都很小的晶 体对应的倒易阵点变为具有一定体积的倒易体元（选择反射区） ，选择反射区的中心是严格 满足布拉格定律的倒易阵点。  反射球与选择反射区的任何部位相交都能产生衍射。  衍射峰的 底宽对应于选择反射区的宽度范围。选择反射区的大小和形状是由晶块的尺寸  D 决定的。 因为干涉函数主峰底宽与 N 成反比，所以，选择反