扫描隧道道显微镜和原子力显微镜.pptVIP

原子力显微镜 (扫描探针显微镜) AFM (SPM)  显微镜的发展 ■光学显微镜 高级显微镜  光学显微镜 16世纪末,荷兰的眼镜商 Zaccharias Janssen,第一台复合式显微镜,倍数太低  Leeuwenhoek磨制的单片显微镜的放大倍数 将近300倍  级显微镜 ■1938年,德国工程师 Max Kno和 Ernst Ruska制造出了世界上第一台透射电子显微 镜(TEM) ■1952年,英国工程师 Char es0 atley制造 出了第一台扫描电子显微镜(SEM) 至此,电子显微镜的分辨率达到纳米级  ■1983年,IBM公司苏黎世实验室的两位科学 家 Gerd binnig和 Heinrich rohrer发明了 扫描隧道显微镜(STM) 应用电子的“隧道效应”这一原理,对导 体或半导体进行观测  ■STM的原理是电子的“隧道效应”,只能测 导体和部分半导体 ■1985年,|BM公司的 Binning和 Stanford大 学的uate研发出了原子力显微镜(AFM), 弥补了STM的不足  描隧道显微镜(STM) 1.电子隧道效应 按经典力学的观点 若EV。则粒子不可能穿过垒区 仅EV。时,粒子才糍穿过垒区。 量子力学观点 由于微观粒子不能忽略的波动 性,即使EV。,也将有部分 粒子