波长散射X射线光谱分析教案资料.ppt

波长散射X射线光谱分析; 2.X-射线的起源;来自样品的特征X射线光谱; X-射线来源于高能电子与原子的相互作用，分为： 连续X射线和特征X射线两类： 连续X射线(韧致辐射)：波长连续变化； 特征X射线 ：波长分立线条，与物质的原子序数有关 连续X射线与特征X射线叠加共存； 光子激发时，不产生连续X射线；; 连续X射线光谱的产生; 光管连续X射线光谱强度公式 称为连续谱 - 克拉马公式;电压对连续光谱强度分布位置的影响; 电流 (i)对强度的影响;靶材(阳极)对强度的影响;特征X射线光谱; 特征X射线光谱的产生; 特征X射线光谱; 常用的特征X射线光谱; 4.X射线的衍射;一束波长为λ的Ｘ射线照射到面间距一定的晶体表面时， 在某一特定方向上发生强度叠加，这种现象称为衍射； 不同波长在空间不同方向上发生衍射，这一规律是实现 X射线光谱分光的重要依据。 ; 1. 入射线和衍射线与晶体表面的夹角相等； 2. 入射线、衍射线和衍射面的法线共面； 3. 在衍射方向上，各原子发出的散射波同相位；; 5. X-射线的荧光产额; 荧光产额定义; 二.XRF 的应用范围 ;三 .XRF分析原理; 荧光分析原理;荧光分析原理;四.光谱仪结构原理; 仪器的光路图;波长散射仪器实际光路图; Magix仪器的基本特点;仪器基本结构－两种光路设计 ; kV K 系谱线 L 谱线 60 Fe - Ba Sm - U 50 Cr - Mn Pr - Nd 40 Ti - V Cs - Ce 30 Ca - Sc Sb - I 24 Be - K Ca - Sn;激发条件选择 － 轻元素; 激发条件选择－重元素;仪器基本结构－ 晶体使用平面和弯曲;晶体的色散本领;最佳晶体的选择;多层薄膜晶体的选择;不同分光准直器的适用范围; 光学元件－滤光片的作用; 探测器工作原理 : 以X射线的光电效应为基础把X射线 光子转换成可测量的电压脉冲 。 闪烁计数器 : 探测重元素和短波X射线 0.04 - 0.15nm (8 - 30 keV) 流气正比计数器 : 轻元素和长波辐射 0.08 - 12nm (0.1 - 15 keV)； 封闭正比计数器 : 中间元素和中波长辐射 0.10 - 6nm (9 - 11 keV )；; 常用的探测器; 结构－流气正比计数器; 结构－闪烁计数器; X－荧光光谱仪各部分的作用与参数; 晶体分光原理; 仪器常用的分光晶体; 仪器常用的分光晶体; 探测原理－光电转换; X－射线探测器; 1.闪烁计数器: 线性范围 1.5 Mcps 2.流气计数器： 2.0 Mcps 3.封Xe计数器: 1.5 Mcps 线性失真度 1% ;测量－脉冲处理－; 脉冲高度选择器的作用; 脉冲高度分布曲线; 实际的脉冲高度分布(封Xe); 气体正比计数器的逃逸峰; 逃逸峰的计算; 探测器的能量分辨率; 探测器的实际能量分辨率： R = 半高宽(W ) / 平均脉冲高度?100%; 探测器分辨率比较; 各种能量干扰; 多种能量干扰;多种能量干扰; 逃逸峰干扰; 重元素高次线干扰;微处理机的作用－; 主操作软件; 系统设置屏;;新应用设置 :条件;新应用 :化合物表;新应用 : 通道;校准 ;测量操作(自动进样器) ;制备校准曲线及基体影响校正计算 ; 统计过程控制(SPC); SPC操作状态;汇编分析程序;应用程序名输入窗;汇编分析通道;汇编化合物表;输入通道、背景和模块通道汇编; S 校准曲线(a校正);校准结果与重现性; S的校准曲线(用内标);校准结果与重现性;此课件下载可自行编辑修改，仅供参考！感谢您的支持，我们努力做得更好！谢谢