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- 2020-11-19 发布于天津
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漏电失效分析美信检测失效分析实验室摘要本文通过射线透视检查外观内部结构分析及检查认为造成漏电失效的原因为电容本身质量问题内部存在镍瘤镍瘤的存在使热应力裂纹的萌生产生了可能关键词镍瘤片式多层陶瓷电容器案例背景失效分析漏电失效分析客户端在老化实验测试阶段发现出现漏电失效其不良比率不详该焊接工艺为回流焊接工艺分析方法简述通过外观检查样品与样品表面未见明显异常样品样品通过射线透视检查样品和样品内部均未发现裂纹孔洞等异常射线透视内部结构图将样品和样品分别切片然后在金相显微镜下放大拍照观察内部结构样品电容内
M L C C 漏 电 失 效 分 析
美信检测失效分析实验室
摘要:
本文通过 X 射线透视检查、 MLCC 外观、 MLCC 内部结构分析及 SEM/EDS 检查,认为造成 MLCC 漏
电失效的原因为:电容本身质量问题,
MLCC 内部存在镍瘤,镍瘤的存在使热应力裂纹的萌生产生了可能。
关键词:
MLCC, 镍瘤 ,片式多层陶瓷电容器
1. 案例背景
,失效分析, MLCC 漏电失效分析
客户端在老化实验测试阶段发现
MLCC 出现漏电失效, 其不良比率不详, 该 MLCC 焊接工艺为回流焊
接工艺。
2. 分析方法简述
通过外观检查 OK 样品与 NG 样品表面未见明显异常。
NG 样
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