2020年最新版材料分析测试技术期末考试重点知识点归纳.docxVIP

材料分析测试技术复习参考资料 1、 透射电子显微镜 其分辨率达10-1 nm ,扫描电子显微镜 其分辨率为Inmo透射电子显微镜放大倍数大。 第一章x射线的性质 2、 X射线的本质：X射线属电磁波或电磁辐射，同时具有波动性和粒子性特征，波长较为可见光短，约与 晶体的晶格常数为同一数量级，在 10-8cm左右。其波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播；粒子性 表现为由大量的不连续的粒子流构成。 即电磁波。 3、 X射线的产生条件：a产生自由电子；b使电子做定向高速运动；c在电子运动的路径上设置使其突然减 速的障碍物。X射线管的主要构造：阴极、阳极、窗口 。 4、 对X射线管施加不同的电压，再用适当的方法去测量由 X射线管发出的X射线的波长和强度，便会得到 X射线强度与波长的关系曲线，称为 X射线谱。在管电压很低，小于某一值（ Mo阳极X射线管小于20KV） 时，曲线变化时连续变化的，称为 连续谱。在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值入 o,称为短波 限，在高速电子打到阳极靶上时，某些电子在一次碰撞中将全部能量一次性转化为一个光量子，这个光量 子便具有最高的能量和最短的波长，这波长即为入 0。入o=1.24/V。 5、 X射线谱分连续X射线谱和特征X射线谱。 *6、特征X射线谱： 概念：在连续X射线谱上，当电压继续升高，大于某个临界值时，突然在连续谱的某个波长处出现强度峰， 峰