残差控制图质量监控中自回归模型选择及企业应用分析.pdfVIP

摘 要 随着社会的不断进步，人们对产品的质量要求越来越高。统计过程控制(Statistical Process Control, SPC)技术在保证产品高质量生产过程中发挥着重要的作用。控制图作为 SPC的重要工具之一，被广泛用在各类产品生产过程的质量控制中。借助控制图，我们能 够及时发现过程偏移，并采取有效措施，以保证生产过程始终处于统计受控状态。随着自 动化与传感器技术的迅速发展，高速率自动化采集数据已成为可能。但是，由于数据采集 频率高、时间间隔短，数据极易产生自相关现象。自相关过程违背了传统控制图所要求的 观测值相互独立的基本条件，故不能用传统控制图直接监控自相关过程。 基于自回归模型的残差控制图是解决自相关过程监控的一种较好的方法。残差控制图 的监控统计量为控制图监控自回归模型得到的预测值与实际值的残差，因而，自回归模型 的构建是非常重要的环节。现有研究大多假设数据呈一阶自相关，而对多阶自相关数据考 虑甚少，但多阶自相关数据在现实中是存在的。针多阶自相关数据，构建恰当的自回归模 型需要丰富的实践经验，尤其在自回归阶数的判断上。假设数据呈p 阶自相关，不同阶数 的自回归模型如何影响残差控制图的性能，目前是不清楚的。基于此，针对p 阶自相关数 据，主要研究