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实验十一-用霍尔效应法测定螺线管轴向磁感应强度分布.pdf

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实验十一 用霍尔效应法测定螺线管轴向磁感应 强度分布 一、实验目的 1、掌握测试霍尔器件的工作特性; 2、学习用霍尔效应测量磁场的原理和方法; 3、学习用霍尔器件测绘长直螺线管的轴向磁场分布。 二、实验仪器 TH-S型螺线管磁场测定实验组合仪。 图 11-1 三、实验原理 1、霍尔效应法测量磁场原理 把一半导体薄片放在磁场中,并使片面垂直于磁场方向,如在薄片纵 向端面间通以电流,那么,在薄片横向端面间就产生一电势差,这种现象 叫做霍尔效应,所产生的电势差叫做霍尔电压,用以产生霍尔效应的半导 体片称为霍尔元件。 霍尔效应是由于运动的电荷在磁场中受到洛伦兹力的作用而产生的, 如图(11-1)所示,当电子以速率v 沿X轴的反方向从霍尔元件的N端面向M端 面运动时,电子所受到的沿Z轴方向、强度为B的磁场的作用力为 f B =-evB (11-1) 式中e为电子电量的绝对值。f B 为电子受到的洛伦兹力,它使电子发生 偏移,从而在霍尔元件的P端面聚积起正电荷,在S端面积聚起负电荷,于 是在P、S端面间就形成一个电场E ,称为霍尔电场。霍尔电场又将产生阻 H 碍电子偏移的电场力fE ,当电子所受到的电场力与磁场力达到动态平衡时, 有 f =f 或 eE = evB (11-2) E B H 其中v为电子的漂移速度。这时,电子将沿X轴的反方向运动,但此时 已在P端面和S端面间形成一个电势差V ,这就是霍尔电压。 H 设元件的宽度为b ,厚度为d ,电子浓度为n ,则通过霍尔元件的电流为 I=-nevbd (11-3) 由(11-2)和 (11-3)式可得 1 IB IB V  E b   R (11-4) H H H ne d d 即霍尔电压与IB乘积成正比,与元件厚度d 及电子浓度n成反比,故采 用半导体材料做霍尔元件,并切割得很薄 (约0.2mm左右)。其中比例系数 1 1 RH   称为霍尔系数,若令 -  K H , 则 ne ned V =K IB (11-5) H H 式中K为霍尔元件的灵敏度,其值已标在仪器上,它表示该器件在单位工作 电流和单位磁感应强度下输出的霍尔电压,它的单位取I为mA、B为KGS、VH . 为mV,则K 的单位为mV/ (mA KGS)。由(11-5)式可知,若K 为已知,用 H H 仪器分别测出通过霍尔元件的工作电流I及霍尔电压V ,就可以算出磁感应 H 强度B的大小,这就是利用霍尔效应测量磁场的原理。

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