XRD测量晶粒尺寸的原理与方法.docVIP

下载本文档

179
0
约小于1千字
约 2页
2020-12-04 发布于广东
举报
版权申诉

XRD测量晶粒尺寸的原理与方法.doc

1、本文档共2页，可阅读全部内容。
2、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。
3、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

晶粒尺寸，通常用晶粒度来衡量。测量晶粒尺寸有很多方法，包括SEM、TEM、XRD等等。下面介绍XRD测量晶粒尺寸的基本原理与方法。基本原理半高宽（FWHM）如果将衍射峰看作一个三角形，那么峰的面积等于峰高乘以一半高度处的宽度。这个宽度就称为半高宽（FWHM）。半高宽会随着被测样品的尺寸而发生变化，据此可以测量材料的晶粒大小。注意：当晶粒大于100nm，衍射峰的宽度随晶粒大小变化不敏感。此时晶粒度可以用TEM、SEM计算统计平均值。当晶粒小于10nm，其衍射峰随晶粒尺寸的变小而显著宽化，也不适合用XRD来测量。计算方法被测样品中晶粒大小可采用Scherrer公式（谢乐公式）进行计算：Dhkl即为晶粒尺寸，它的物理意义是：垂直于衍射方向上的晶块尺寸。其中dhkl是垂直于（hkl)晶面方向的晶面间距，而N则为该方向上包含的晶胞数。计算晶粒尺寸时，一般选取低角度的衍射线。如果晶粒尺寸较大，可用较高的角度的衍射线代替。