XRD测量结晶度的原理及测量方法介绍.docVIP

物质由完全非晶体转变为晶体的过程是连续的。而结晶度则是指结晶的完整程度或者完全程度。如果将结晶度用Xc表示，结晶相的重量为Wc，非晶相的重量为Wa。 则 Xc= Wc/(Wc+Wa) 结晶程度对XRD谱图的影响：结晶完整的晶体，内部质点排列比较规则，衍射峰高、尖锐，衍射峰的半高宽接近仪器测量的宽度。而结晶程度差，衍射峰形宽而弥散。随着结晶度下降，衍射峰峰宽变宽，最后消失在背景中。 XRD测量结晶度的原理根据全倒易空间X射线散射守恒定理，对于给定的原子集合体，不论其凝聚态如何，当受到相同强度的X射线照射，其相关散射在全倒易空间中守恒。因此，不论物质中晶态和非晶态的数量比如何，X射线的散射强度总是一个常数。 结晶度的测量方法我们通常所测量的结晶度分为绝对结晶度和相对结晶度。 对于绝对结晶度，有纯样法和差异法。 1：所谓纯样法，是将测量的物质的衍射强度与该物质的100%的晶态样品（或者100%非晶态样品，原理相同）对比，得到测量样品的结晶度。 以公式的形式表示则是：Xc= Ic/I0 。 Xc为待测样品的结晶度，Ic为待测样品的全部衍射峰的积分强度，I0为100%晶态的积分强度。 2：由于100%的晶态的样品很难制备，因此常采用差异法。 假定结晶相百分数正比于衍射峰积分强度之和，非晶相百分数正比于非晶散射峰积分强度。 即Xc=PIc ；Xa=QIa 则：Xc=Ic/(Ic+kIa) X100%。 其中，Ic 为结晶部分衍射积分强度， Ia 为非晶部分衍射积分强度。 K=Q/P，为结晶部分与非晶部分的单位质量的相对散射因子。 由上式可知，如K已知，则可以求出样品的结晶度。 而对于同一种试样来说，K为常数。我们可以通过测量两种不同结晶度的同种试样来测量出K值，进而得到样品的绝对结晶度。 相对结晶度如果将K值取1，则Xc=Ic/(Ic+Ia)，即为相对结晶度。 这种计算方式并不精确，但是在样品不存在择优取向，且晶相合非晶相的化学组成基本相同，可以认为该法具有比较意义。实际上，得到绝对结晶度比较困难，所以相对结晶度反而是比较常用的方法。