超声波仪器校验规程.docVIP

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超声波仪器校验规程 文件编号 页 码 第 PAGE 2页 共 NUMPAGES 8页 修订日期 超声波仪器校验规程 受控状态: 文件编号: 修订状态: A0 分 发 号: 编制: 审核: 批准: 日期: 日期: 日期: 会签与修订页: 会签页: 部 门 签 名 日 期 备 注 会 签 会 签 会 签 会 签 会 签 会 签 会 签 会 签 会 签 会 签 修订记录: 修订 状态 修订 日期 生效 日期 更 改 内 容 修订人 1 适用范围 1.1本细则适用于本厂所有脉冲超声波检测仪器的校准.如USM-35;CTS-4020;CTS-9003超声波检测设备等。 1.2本细则不适应于非脉冲超声波检测仪器的校准。如相控阵检测设备,超声波测厚仪等。 2 参考依据 2.1 JB/T4730-2005《承压设备无损检测》 2.2 超声波检测(中国特种设备无损检测人员培训教材) 2.3 JJG746-2004超声波探伤仪 2.4 JB/T10061-1999《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》 3 校准内容如下: 3.1 垂直线性误差 测试方法如下: 将[抑制]旋钮调至“0”,衰减器保留30dB衰减信余量。 直探头通过耦合剂置于ⅡW( 或其它试块)上,对准25mm底面,并用压块恒定压力。 调节仪器使试块上某次底波位于示波屏的中间,并达满幅度100%,但不饱合,作为“0”dB 固定[增益]旋钮和其它旋钮,调衰减器,每次衰减2 dB,并记录下相应的波高Hi,并填入下表,直至底波消失。 衰减量ΔdB 0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24 回波高度 实测 绝对波高 Hi 相对波高 % 理想相对波高 100 79.4 63.1 50.1 39.8 31.6 25.1 19.9 15.8 12.6 10 7.9 6.3 注:实测相对波高%=Hi(衰减ΔidB后波高)/Ho(衰减0dB时波高) 5)计算垂直线性误差: D=(|d1|+|d2|)% d1实测值与理想值的最大正偏差 d2实测值与理想值的最大负偏差 根据JB/T10061-1999《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》规定仪器垂直线性误差D≤8%, JJG746-2004《超声波探伤仪》规定D≤6%;JB/T4730中进一步规定垂直线性误差D≤5%。本厂采用垂直线性误差D≤5%。 3.2 水平线性误差 测试方法如下: 将直探头置于ⅡW试块上,对准25mm厚的大平底面。 调[微调];[水平];或[脉冲移位]等旋钮,使示波屏上出现五次底波B1到B5,且使B1对准2.0,B5对准10.0。 观察和记录B2;B3;B4与水平刻度值4.0;6.0;8.0的偏差a2;a3;a4. 计算水平线性误差: δ= amaxa2;a3;a4中的最大者 b示波屏水平满刻度值 根据JB/T10061-1999《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》规定仪器的水平线性误差≤2%, JJG746-2004《超声波探伤仪》规定水平线性误差≤2%;JB/T4730中进一步规定水平线性误差≤1%。本厂采用水平线性误差≤1%。 3.3 动态范围 动态范围的测量通常采用直探头,将试块上反射体的回波高度调节到垂直刻度的100%,用衰减器将回波幅度由100%下降到刚能辨认的最小值时,该调节量即为仪器的动态范围。注意这时抑制旋钮为“0” 根据JB/T10061-1999《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》规定仪器的动态范围不小于26dB。 3.4 始脉冲宽度的测定方法 按规定调好灵敏度并调至标准“0”点,示波屏上始脉冲达20%高处至水平刻度“0”点的距离Wn,即为始脉冲宽度。如下图所示: JB/T4730-2005中规定,仪器和直探头组合的始脉冲宽度(在基准灵敏度下);对于频率为5ZHz的探头,宽度不大于10mm,对于频率为2.5ZHz的探头,宽度不大于15mm.   3.5 远场分辨力的测定方法  3.5.1 仪器与直探头远场分辨力的测定方法: [抑制]旋钮调至“0”,探头置于如下图所示的CSK-ⅢA试块上,左右移动探头,使示波屏上出现85;91;100三个反射回波A;B;C,则波峰和波谷的分贝差20lg(a/b)表示分辨力。 JB/T4730-2005中规定,直探头远场分辨力≥30dB 3.5.2仪器与斜探头分辨力的测定: 1)斜探头置于下图所示CSK-ⅠA试块上,对准φ50mm; φ44mm; φ40mm三阶梯孔,使示波屏上出现三个反射波。 2)平行移动探头并调节仪器,使φ50mm;

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