Q-P-3-37 A1 测试针的使用规范.docVIP

PAGE 三阶文件 编号 Q-P-3-37 版本 A1 测试针使用管理规范 页次 第 PAGE 4页共4页 生效日期 201 PAGE 核准: 审 核: 制订: 童志勇 文件修订记录一览表 序号 版本 页次 修订类型 修 订 内 容 简 要 修订者 修订日期 备注 拟定 增加 删除 修正 1 A1 5 Ⅴ 新版发行 童志勇 201 1.目的： 规范测试针的使用规范，使作业人员能依此规范正常操作更换测试针，确保产品质量及测试治具的正常运行。 2.适用范围： 适用于长田电子所有带测试针的测试治具。 3.名词定义： 测试针：业内也称探针，用于PCB板测试时又分为弹簧针(专用针)和通用针，弹簧针在使用时，需要根据所测试的PCB板的布线情况制作测试模具，且一般情况下，一个模具只能测试一种PCB板；通用针在使用时，只需有足够的点数即可，故现在很多厂家都在使用通用针；弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针，PCB板探针主要用于PCB板测试，ICT探针主要用于插件后的在线测试，BGA探针主要用于BGA封装测试及芯片测试。 4.职责： 4.1 工程课：根据生产计划的需求请购测试针，测试针购买回的确认，测试针数量的记录、确认及 处理。 4.2 采购课：依据工程