统计技术应用规定.docVIP

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A/0版 统计技术应用规定 第 PAGE 4页 共 NUMPAGES 4页 xxxx有限公司 统计技术应用规定 文件号 ZC/BN-ZL-05 版 本 A/0 1.目的 本规定应用于关键工序及涉及产品特殊特性工序的工序能力调查及工序能力指数的计算,以及控制图的制作监视及分析。 2.术语 2.1计量型控制图:指用于监视计量型数据控制图,本作业指导书介绍-R控制图。 2.2计数型控制图:指用于监视计数型数据控制图,本作业指导书仅用于P图。 2.3 Cp值:无偏移时(过程均值与规范中值一致)的过程能力指数。 2.4 Cpk值:有偏移时(过程均值与规范中值不一致)的过程能力指数。 2.5 Pp值:无偏移时(过程均值与规范中值一致)的过程能力指数。 (初始过程能力指数) 2.6 Ppk值:有偏移时(过程均值与规范中值不一致)的过程能力指数。 (初始过程能力指数) 2.7 Cm值:无偏移时(过程均值与规范中值一致)的设备能力指数。 2.8 Cmk值:有偏移时(过程均值与规范中值不一致)的设备能力指数。 3.职责 典型职责为:控制图的制作,打点,分析,指导,制定纠正措施,以及过程能力指数的计算。 4.内容 4.1 在运用控制图监视及计算过程能力指数的过程中要作好如下准备: 4.1.1 确定测量系统(测什么,何处测,如何测,工具,准确性) 4.1.2 减少不必要的变差(避免刀具更换,材料更换,操作者更换,检验员更换,设备故障,工装更换) 4.1.3 如出现上述更换,则应在控制图上作好记录。 4.2 -R图的制作 4.2.1 确定样本容量(每个样本5个数据)即n=5,确定样本数量(25个),根据该工序生产节拍确定采样频率(即隔多长时间取一个样本或多少产量取一个样本)。 4.2.2 根据采样频率采集数据,每个样本的5个数据要连续获得,共获得125个数据,并将数据记录于控制图中的数据表中。 4.2.3 计算每个样本中5个数据的均值和极差R =(X+X+X+X+X)/5 R=X-X 共得到25个值和25个R值。 4.2.4 根据值和R值确定控制图的刻度(控制图应提前做好)。 4.2.5 将25个值及25个R值分别描于图及R图上,并连成折线,可见图形及趋势。 4.2.6 计算平均极差和过程均值 =(R+R+……+R)/25 =(++……+)/25 4.2.7 计算上下控制限(UCL及LCL) 图:UCL=+AR LCL=-AR R图:UCL=D LCL=D 当n=5时,A=0.58 D=2.11 D=0 4.2.8 将中位线(及)和上下控制限(UCL,LCL,UCL,LCL)分别描于图及R图上,图及R图制作完成。 4.3 P图的制作 4.3.1 确定样本容量(每个样本200个数据,即n=200),确定样本数量(25个,即k=25),根据该工序的生产节拍确定采样频率(即隔多长时间取一个样本或多少产量取一个样本)。 4.3.2 根据采样频率采集数据,每个样本的200个数据要连续获得。 4.3.3 计算每个样本内的不合格品率。 P=Np/n 式中 P:不合格品率 Np:样本内不合格品数,共得25个P值 N:样本容量 4.3.4 根据P值确定控制图得刻度(控制图应提前制好)。 4.3.5 将25个P值确定描于控制图上,并连成折线,可见图形及趋势。 4.3.6 计算平均不合格品率 = 4.3.7 计算上下控制限(UCL和LCL) UCL= LCL= 4.3.8 将中位线()和上下控制限(UCL,LCL)棉于P图上,P图制作完成 4.4 控制图的分析(包括-R图及R图) 4.4.1 当出现下列情况时,则说明过程出现异常: 1:出现超过控制限的点 2: 连续9点落在中心线同一侧 3: 连续6点递增或递减 4: 连续14点中相邻点交替上下 5: 连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外 6: 连续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外 7: 连续15点落在中心线两侧的C区内 8: 连续8点落在中心线两侧且无一在C区内 4.4.2 出现上述异常时,应进行分析并采取措施。 4.5 控制图用于长期监控 4.5.1 当过程不稳定因素已清除后,应剔除失控点数据,重新计算过程均值(,P)和控制限。 4.5.2 将重新计算的过程均值和控制限描于控制图上并用于长期监控。 4.5.3 剔除失控点后,若样本数量小于20时,原有控制图即行作废,需重新采集数据并制图。 4.6 计量型质量特性过程能力指数计算 4.6.1 利用

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