电镜基本原理透射电镜详解.pptVIP

在26000倍下观测碳酸钙粉末在18900倍下对PVC树脂 进行观测 第二章电镜的基本原理和构造 第一节透射电镜 、电镜的发展历史 怠 兰长要 画 m I nm 10nm 100 nm 1 um 10 Am 100 At 1m10m.21 透射电子显微镜 扫描电子显管 1932年鲁斯卡发明创制了第一台透射电子显微 镜实验装置(TEM)。 相继问世了扫描透射电子显微镜(STEM)、扫描 电子显微镜(SEM以及上述产品与X射线分析系 统(EDS、WDS)的结合,即各种不同类型分析 型电子显微镜 1986年,宾尼格和罗雷尔先后研制成功扫描隧 道电子显微镜STM)和原子力电子显微镜(AFM), 使人类的视野得到进一步的扩展。 口1986年诺贝尔将委员会把物理奖的一半颁发给 E. Ruska:为了他在电子光学基础研究方面的贡献和 设计出第一台电子显微镜. 口1956年 Menter得到酞氰铂和酞化氰铜的点阵平面条 纹像(1纳米)。 口1967年 Allpress和 Sanders得到分辨率为0.7纳米 的氧化物的像。 口1971年 I ijima高分辨观察到氧化铌中金属原子的分布 (0.3纳米),标志高分辨像与晶体结构对应关系的 产生。 口目前,电子显微镜的分辨率接近0.1纳米。 二、透射电镜(TEM)基本原理 20世纪20年代,发现电子流具有波动的性质, 是一种电磁波,其波长比