(afm)原子力显微镜原理介绍.docxVIP

(AFM)原子力显微镜原理介绍 原子力显微镜(AFM)原理 一、原理 原子力显微镜(Atomic Force Microscopy, AFM) 是由IBM公司的Binnig 与史丹佛大学的 Quate于一九八 五年所发明的，其目的是为了使非导体也可以采用扫描探针显微镜( SPM进行观测。 图1、原子与原子之间的交互作用力因为彼此之间的距离 的不同而有所不同，其之间的能量表示也会不同。 原子力显微镜(AFM与扫描隧道显微镜(STM最大的差别在于并非利用电子隧道效应，而是利用原子之 间的范德华力(Van Der Waals Force )作用来呈现样品的表面特性。假设两个原子中，一个是在悬臂 (cantilever )的探针尖端，另一个是在样本的表面，它们之间的作用力会随距离的改变而变化，其作用 力与距离的关系如“图1 ”所示，当原子与原子很接近时，彼此电子云斥力的作用大于原子核与电子云之 间的吸引力作用，所以整个合力表现为斥力的作用，反之若两原子分开有一定距离时，其电子云斥力的作 用小于彼此原子核与电子云之间的吸引力作用，故整个合力表现为引力的作用。若以能量的角度来看，这 种原子与原子之间的距离与彼此之间能量的大小也可从 Lennard -Jones的公式中到另一种印证。 为原子的直径 为原子之间的距离 从公式中知道，当r降低到某一程度时其能量为 +E,也代表了在空间中两个原子是相