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?第七天 上午 曲线曲面的扫描 无CAD模型的扫描：开放；片区；旋转 有CAD模型的曲面扫描：周边；截面 开放：方法，边界点，边界，矢量，执行，标称，厚度，单点，显示触测/全部，测头补偿，选择/查找标称值公差，生成，转换为点等； 下午 文件的导出：Iges；Generic 轮廓度分析、分析选项的使用 特殊测头校验：星型测头、五方向联结座 TOC \o 1-3 \h \z \u 第七天 1 上午 1 下午 1 一、扫 描 1 （一）PCDMIS对于DCC扫描主要应用于一下两种情况： 1 （二）、扫描测头类型的介绍: 2 （三）、七种扫描 2 1、开放路径扫描 2 2、闭合路径扫描 5 3、片区扫描 6 4、截面扫描 6 5、周长扫描 7 6、转台扫描 7 7、UV扫描 7 下午 8 二、如何进行轮廓度分析？ 8 三.用“分析”来分析轮廓度 8 三、如何将测绘的工件数据导出IGES格式文件？ 10 一、应用情况： 1、未知零件数据：无图纸、无CAD模型，用于测绘和逆向工程。5种：开线、闭线、曲面、旋转、自由曲面（可以已知点数据）。 2、已知零件数据：有图纸或有CAD模型，用于检测轮廓度。9种 九种基本类型：开放路径、闭合路径、曲面、截面、周边、旋转、UV、自由曲面、网格。 二、扫描测头类型的介绍: 接触式触发扫描：(可用测头包括TP2、TP20、TP200、TP6、TP7) 对于TP2、TP20、TP200、TP6、TP7等触发测头来讲，在进行数据扫描时是点触发式扫描，也就是说，每测一点测头就要离开零件表面，按照一定的算法逐点扫描. 接触式的连续扫描：(可用测头SP600，SP25，Lsp-X5,Lsp-X3) 对于SP600这类模拟测头来说，在进行数据扫描时测头始终接触零件表面，软件控制采点，采点密度由扫描速度和取点密度所决定。相对于触发扫描而言，这种扫描的效率要高。 非接触式触发扫描：(可用测头OTP6) 对于OTP6测头来说，在进行零件扫描时测头并不接触零件表面，是在离零件36MM至42MM的距离范围内对零件进行扫描并采集零件数据。对一些软体类,且精度要求不高的零件, 可以采用这种扫描方式对零件进行测量. 非接触式连续扫描：(可用测头OTM3M) 对于OTM3M测头来说，在进行零件扫描时测头是在离零件60MM的位置对零件进行连续性的宽度为70MM的光带扫描采集零件数据。 三、9种扫描 1、开放路径扫描 确认当前模式为：DCC模式。 路径：插入/扫描 有关参数含义： 边界点区域： 起始点：1；方向点：D; 终止点:2 用于定义扫描的边界 起始点结束点 起始点 结束点 为什么要定义方向点？ ? ? 方向点 方向1方法： 直线：PC-DMIS 根据设定增量和最后两个测定测点来确定每一次触测。测头的逼近方向垂直于最后两个测定测点之间的直线。测头将停留在切割平面上。PC-DMIS 将从第一个边界点开始，以设定增量连续采点，然后在遇到终止边界点时停止。 体轴：PC-DMIS 将沿着当前零件的坐标系统以给定增量采点。测头逼近方向垂直于指定轴。测头将停留在切割平面上 。逼近矢量将垂直于所选轴并位于切割平面上。体轴方法使用的逼近方向与每一次触测的逼近方向相同（与直线技术不同，直线技术会将逼近方向调整到垂直于先前两个测点之间的直线）。 变量：测头的逼近方向垂直于最后两个测定测点之间的直线。 采点规则： PC-DMIS 将使用最小增量采三个点。然后，它将测量测点 1-2 和测点 2-3 之间的夹角。 1、如果测定角度在定义的最大和最小值之间，PC-DMIS 将继续以当前增量采点。 2、如果角度大于最大值，PC-DMIS 将清除最后一个测点，然后使用当前增量值的四分之一重新测量该测点，直到测定角度处于最大值和最小值之间或达到增量的最小值。 3、如果角度小于最小值，PC-DMIS 将以两倍的增量进行下一次触测，直至测定角度处于最大值和最小值之间或达到增量的最大值。 边界：平面、球、圆柱、锥、旧样式（由于步长的存在，终止点可能会打不上，设置一个障碍停止它） 边界条件将在终点处使用，以上每一边界条件（旧样式除外）都有一个用于停止扫描的边界交叉数框。 例如，如果将交叉数指定为二，那么当测头的球心两次穿过给定条件的曲面（平面、球面、柱面、锥面等）时，扫描将停止。 保留旧样式条件是为了与 PC-DMIS 的先前版本兼容。 触测类型：触测点的类型。矢量点、曲面点、棱点、角度点。并非所有扫描都支持这四