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微跌测试掉电问题解析 微跌测试 , micro-drop test, 顾名思义 ,在较小的高度范围内重复跌落 , 可以有效确认手机 掉电问题 ,被广泛应用于手机设计中 ,并愈发重要 .国内外诸外手机制造商和 design house 都有 这个测试要求或需求 .,虽然各家标准不尽相同 ,但大多大同小异 . 中兴重复摔跌测试在双工位自由跌落试验机进 行，跌落高度15cm,速度是20-30次/ 分， 跌落四个面：屏幕面，电池面，左侧面 （或右侧面） ，上侧面（或下侧面）跌落 次数 是四个面每个面各 5000 次。要求跌落 后手机外观结构、功能良好。 TCL 处于待机状态样机 3台,跌落平面为桌面厚 度 10cm 铝板。跌落频率 14 次/分钟 ＋/－ 20 ％,跌落面为手机前后左右四个面,其中 电池面跌落 2500 次,其他三个面各跌落 500 次,共跌落 4000 次,此为一组,跌落 四组,每跌落一组检查一次。要求跌落后 手机 外观结构、功能良好。 万利达 试验样机装样整机从 10cm的高度垂直自由 跌落于木桌上， 按顺序跌落跌落四个面 ——其中电池面跌落 2500次,其他面跌落 500次,依此循环 4次, 共计 16000次,每 跌落 100次检查一次,要求跌落后手机外观 结构、功能良好。 SIMCOM, 微跌标准定义为 10cm 高度,正反面各跌 5000 次,要求跌落后手机外