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micron 镁光 nand 命名规则
Standard NAND Flash Part Numbering System
Microns part numbering system is available at
Standard NAND Flash*
MT 29F 2G 08 A A A WP - xx xx xx xx ES : A
Micron Technology Design Revision (shrink)
A = 1st design revision
1. Single-Supply Flash
29F = Single-Supply NAND Flash Production Status
29H = High Speed NAND Blank = Production
ES = Engineering samples
2. Density QS = Qualification samples
1G = 1Gb MS = Mechanical samples
2G = 2Gb
4G = 4Gb Operating Temperature Range
8G = 8Gb Blank = Co mmercial (0 °C to +70 °C)
16G = 16Gb ET = Extended ( –40°C to +85 °C)
32G = 32Gb WT = Wireless ( –25°C to +85 °C)
64G = 64Gb
128G = 128Gb Block Option (Reserved for use)
256G = 256Gb Blank = Standard device
3. Device Width Flash Performance
08 = 8 bits Blank = Full specification
16 = 16 bits
4. Speed Grade (MT29H Only)
Classification 15 = 133 MT/s
12 = 166 MT/s
5. Mark Bit/cell Die RnB
A SLC 1 1 Package Code
B SLC 2 1 WP = 48-pin TSOP I (CPL version) (Pb-free)
C SLC 2 1 WC = 48-pin TSOP I (OCPL version) (Pb-free)
D SLC 2 2 H1 = 100-ball VFBGA (Pb-free), 12 x 18 x 1.0
E SLC 2 2 H2 = 100-ball TFBGA (Pb-free), 12 x 18 x 1.2
F SLC 4 2 HC = 63-ball VFBGA, 10.5 x 13 x 1.0
G SLC 4 2 C2 = 52-pad ULGA, 12 x 17 x 0.4 (use TBD)
J SLC 4 + 4 2 + 2 C3 = 52-pad ULGA, 12 x 17 x 0.65
K SLC 8 4 C4 = 52-pad VLGA, 12 x 17 x 1.0 (SDP/DDP/QDP)
Z SLC 1 NA C5 = 52-pad VLGA, 14 x 18 x 1.0 (SDP/DDP/QDP)
C6 = 52-pad LLGA, 14 x 18 x 1.47 (8DP, QDP, DDP)
M MLC 1 1 C7 = 48-pad LLGA, 12 x 20 x 1.47 (8DP)
N MLC 2 1 SWC = 48-pin Stacked TSOP (OCPL version) (Pb-free)
P MLC 2 1 SWP = 48-pin Stacked TSOP (CPL version) (Pb-free)
Q MLC 2 2
R MLC 2 2 Generation (M29 only)/Feature Set
T MLC 4 2 A = 1st set of device features
U MLC 4 2 B = 2nd set of device features (rev only if different than 1st
set)
V MLC 4 + 4 2 + 2 C = 3rd set of device features (rev only if different)
W MLC 8 4 D = 4th set of device features
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