2021边界扫描测试原理与应用.pptVIP

Intelligent Boundary Scan Solutions ? Boundary Scan Overview 「邊界掃描測試」 測試原理與應用 Intelligent Boundary Scan Solutions ? Boundary Scan Test 測試之定義 所謂 邊界 (Boundary) : 係指 IC 腳端與內 部 ( 功能邏輯閘 ) 晶片間之接點 。 換言之進行掃描測試 IC 腳端與晶片間之 接點邊界，係所謂之 「邊界掃描測試」 。 1990 年經由 IEEE 1149.1 加以規格化之 BST 測試，俗稱為 「 邊界掃描測試 」 (Boundary Scan Test) BScan Basics More Details on Intelligent Boundary Scan Solutions ? ? IEEE-1149.1 = digital interconnection test ? IEEE-1149.4 = mixed-signal and analog ? IEEE-1149.5 = system level test ? IEEE-1149.6 = Differential AC coupled ? IEEE-1532 = 4/27/2020 interconnection test networks In-System