DB13_T 5223-2020向列相热致液晶单体电压保持率的测定方法.docxVIP

ICS 31.120 L 90DB13 L 90 河 北 省 地 方 标 准 DB 13/T 5223—2020 向列相热致液晶单体电压保持率的测定方法 2020 - 09 - 18 发布 2020 - 10 - 18 实施 河北省市场监督管理局 发 布 DB13/T 5223 DB13/T 5223—2020 前 言 本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。本标准由石家庄市市场监督管理局提出。 I 向列相热致液晶单体电压保持率的测定方法 范围 本标准规定了向列相热致液晶单体电压保持率测定的原理、试验条件、仪器、试验步骤、数据处理。 本标准适用于向列相热致液晶单体电压保持率的测定。 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 SJ/T 11203 液晶材料术语 术语和定义 SJ/T 11203界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 电压保持率 voltage holding ratio（VHR） 单位时间内电压变化曲线区间积分面积与电压100%保持时积分面积的百分比。 3.2 溶剂 solvent 特定单体和固定比例组成的混合液晶，待测试单体可溶解于此混合液晶中，用于后续评估单体性能。 原理 待测样品加入液晶盒，测试过程设备在液晶盒电极两侧输出设定电压，在设定时间到达后撤电， 系统实时监测电压的变化，测试软件自动绘制电压变化曲线，待测试完成后设备自动积分测试曲线， 使用面积百分比法获取待测样品的电压保持率。 试验条件 a) 温度：22 ℃±3 ℃； b) 相对湿度：≤50%。 仪器设备 1 DB13/T 5223—2020 液晶性能综合测试仪 包含信号发生器，信号放大器，数模转换器，控温系统，屏蔽加电框架系统以及加电夹具等。 数据处理系统 数据处理系统具有实时采集电压变化数据及对数据进行读入、分析、比较、处理以及存储等功能。 电子天平 精度：1 mg。 热风循环烘箱 控制温度：30 ℃～250 ℃，控温精度±1 ℃。 数显恒温磁力搅拌器 控制温度：30 ℃～100 ℃，控温精度±1 ℃；转速：0～200 rpm。 试验步骤 溶剂的选择 普通单体 溶剂的电阻率≥5.0×1011 Ω ?cm。 TFT 类单体 溶剂的电阻率≥10.0×1013 Ω ?cm。 样品配制 配置方式 以洁净的棕色高硼硅玻璃瓶为容器，称取重量为0.300 g～0.500 g的待测向列相热致液晶单体， 按质量分数1:9的比例加入7.1所选溶剂，放入磁子，封口，置于磁力搅拌器加热溶解，调整转速保证顺畅搅拌，温度控制在60 ℃± 5℃，搅拌时间不低于60 min，溶解后关闭加热，继续搅拌，时间不少于30 min，停止搅拌取出磁子，冷却至环境温度制得待测混晶样品。 晶析处理 待测样品室温静置不少于24 h，若出现晶析，参照7.2.1配置方式的操作要求进行二次制样，将待测向列相热致液晶单体的质量分数按照8%，5%，3%，1%依次降低的方式重新配置混晶样品，直至不再出现晶析。 液晶盒处理 设定热风循环烘箱温度230 ℃±1 ℃，温度稳定后将液晶盒放置在热风循环烘箱内，烘烤2 h后取出，冷却至环境温度备用。 液晶盒灌注 2 DB13/T 5223—2020 用不少于10 mL石油醚清洗取样勺，取四片液晶盒并标记，用取样勺将液晶置于液晶盒封口处，待液晶自动铺满液晶盒后将多余液晶擦拭干净。 设置测试条件 根据液晶性能综合测试仪的操作说明书，按照表1要求设定具体参数及条件。 表 1 液晶性能综合测试仪具体参数及条件 参数 条件 加电电压 1 V 充电时间 60 μ s 保持时间 166.7 ms 测试温度 60 ℃ 测试 将四片液晶盒放置在测试夹具上并置入屏蔽加电框架系统内，待温度稳定再保持10 min后，进行测试，读取并记录测试数据。 数据处理 电压保持率按公式（1）计算，取四组数据的平均值为待测液晶单体的电压保持率。 VHR ? St S0  ?100% …………………………………………（1） 式中： VHR——电压保持率； S 0 ——施加外加电压后，在规定时间内电压100%保持时的电压曲线的积分值，无量纲； St ——施加外加电压后规定时间内电压自然变化曲线的积分值，无量纲。 3