《电子测量与仪器（第5版）》[郭庆][电子教案 第9章 数据域测试.pptxVIP

第9章 数据域测试;9.1 数据域测试概述;（2）数字系统的特点 ;9.1.2 数据域测试的任务与故障模型;（2）故障模型;（3）被测对象与测试方法;9.1.3数据域测试系统与仪器 ;（2）数据域测试仪器;;9.2 逻辑分析仪的组成原理 ;;9.2.2基本组成原理;9.2.3触发方式;（2）电平触发;（3）定时触发;（4）码型触发;（5）组合触发;（7）高级触发;;9.2.4逻辑分析仪的数据捕获和存储;常用的电平逻辑;（2）数据捕获 ;（3）数据存储;9.2.5逻辑分析仪的显示;;（2）列表显示;（3）反汇编显示;（4）图形显示;（5）协议显示;9.2.6逻辑分析仪的主要技术指标与发展趋势;（2）逻辑分析仪的发展趋势;9.2.7逻辑分析仪的应用;（2）逻辑分析仪在UART协议分析中的应用;（3）ADC0809接口时序测试;;课外知识：集成电路生产过程;课外知识：芯片封装技术;方型扁平式封装技术QFP;球栅阵列封装BGA;;芯片尺寸封装CSP;多芯片模块MCM;SOC;课外知识：中国的半导体赛道;课外知识：集成电路测试需求;2011-2020年我国集成电路封装测试行业销售额情况;针床在线测试仪;9.3 可测试性设计;;9.3.2扫描设计技术;9.3.3内建自测试技术;9.3.4 边界扫描测试技术;（2）边界扫描测试结构;（3）边界扫描测试指令;（4）边界扫描描述（BSDL）文