汽车行业SPC培训教学PPT课件.ppt

* 请依照上个课堂练习的数据，计算下列指数： Pp、Ppk; CR、PR。 课堂练习 * 材料经热处理后其硬度规格要求为57±2HRC，现有一批材料经抽样得其硬度的过程分布和性能为Xbar±3σ=57.4±1.35，请计算Pp以及过程能力指数Ppk分别为多少？ 案例练习 * 2 6 d R LSL USL C p = - = 单边公差的过程测量指数 Cp:能力指数。过程能力与由公差表示的最大可允许的变差进行比较。该指数对于单边公差没有意义。 如果产品的特性具有物理极限（例如：平面度不可能小于0）， Cp就可以用物理极限（0）作为下限的替代值来计算。 * 单边公差的过程测量指数 Cpk为能力指数。它同时考虑了过程的位置和能力。 对于单边公差， Cpk 等于CPU或者CPL，公式如下： 2 3 3 d R LSL x CPL x USL CPU = - = - = Cpk= Cpk= （只有公差上限） （只有公差下限） * 6 LSL USL Ｐ p - = 单边公差的过程测量指数 Pp:能力指数。过程能力与由公差表示的最大可允许的变差进行比较。该指数对于单边公差没有意义。 如果产品的特性具有物理极限（例如：平面度不可能小于0）， Pp就可以用物理极限（0）作为下限的替代值来计算。 * 单边公差的过程测量指数 Ppk为性能能力指数。它同时考虑了过程的位置和性能。 对于单边公差， Ppk 等于PPU或者PPL，公式如下： 3 3 LSL x PPL x USL PPU - = - = Ppk= Ppk= （只有公差上限） （只有公差下限） * 单边公差的过程测量指数 CR：能力比值，是Cp的倒数： CR=1/Cp PR：性能比值，是Pp的倒数： PR=1/Pp 上述两个指数对于单边公差没有意义。 统计过程控制(SPC) 六、设备能力研究 * 根据美国工业界的经验，长期的过程变差的７５％来自设备变差。 设备能力指数Ｃmk表示仅由设备普通原因变差决定的能力，与公差和生产设备的加工变差有关，设备能力指数只考虑短期的变差，尽可能排除对过程有影响而与设备无关的因素。 设备能力指数Ｃmk 设备普通原因 人员 设备 材料 测量 环境 方法 * 设备能力研究：连续50件产品，排除3M1E，将设备/模具/检具/调整装置视为一个整体； 过程能力研究：至少25个子组，每个子组内4-6件产品，尽量包括4M1E。 设备能力指数Ｃmk 过程普通原因 人员 设备 材料 测量 环境 方法 * 进行设备能力研究的时机： 新的设备/模具； 新产品； 设备/模具维修后（对产品有影响）； 设备搬迁后； 公差缩紧； 长期停产后； 产品不合格追查原因时； 加工过程/输出状态更改等。 设备能力研究 设备能力要求：Cmk≥1.67 * 计算Cmk： 1、连续取样50件产品； 2、连续取样过程中，不变更工艺参数、材料、作业人员、环境； 3、估计设备变差； 4、计算Cm、Cmk； 5、分析和改进（必要时）。 设备能力研究 * 控制限内的模式或趋势——明显的非随机模式： 通常大约2/3的描点应落在控制限内中间的1/3区域，大约1/3的描点应落在控制限内外面的2/3区域。 1、如果显著多余2/3以上的描点落在离中心线很近之处（对于25子组，如果超过90%的点落在控制限内中间的1/3区域），则应调查是否存在下列一种或两种情况： 控制限或描点计算错误或描错； 过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组轴中，每组抽一根来测取数据）。 数据已经过编辑(极差和均值相差太远的几个子组更改或删除） 如何定义“不受控”信号 * 控制限内的模式或趋势——明显的非随机模式： 2、如果显著少余2/3以上的描点落在离中心线很近之处（对于25子组，如果40%或更少的点落在控制限中间的1/3区域），则应调查是否存在下列一种或两种情况： 控制限或描点计算错误或描错 。 过程或取样方导致连续的子组中包含了从两个或多个不同的过程流的测量值（如，输入材料批次混淆）。 如何定义“不受控”信号 * UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的过程（点离过程均值太近） 均值失控的过程（点离控制限太近） * 在进行初次过程研究或重新评定过程能力时，不受控的特殊原因已被识别和消除或制度化，然后应重新计算控制限，以排除不受控时期的影响； 排除所有受已被识别和消除或制度化的特殊原因影响的子组，然后重新计算新的中心线和控制限，并在图中绘出； 确保当与新的控制限相比时，两个图都没有不受控的情况。如果不是，则重复识别特殊原因/纠正/重新计算的过程。 重新计算控制限 * 由于识别为特殊原因而从R图中去掉的子组，也应该从Xbar图中去掉。修订后的R、Ｘ用于重新计算控