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2021-02-25 发布于天津
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ttl门电路的逻辑功能测试实验报告.docx

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TTL门电路的逻辑功能测试实验报告实验报告院别电子信息学院课程名称数字电路实验班级光源与照明B 实验名称 TTL门电路的逻辑功能测试姓名陈鑫鸿实验时间 2017年3月21日学号 21 指导教师报告内容一、实验目的与任务 A B L 1、测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非 0 0 0 门、或非门与异或门的逻辑功能。 0 1 1 2、了解测试的方法与测试的原理。 1 0 1 二、实验原理介绍 1 1 1 实验中用到的基本门电路的符号为 Affi 3-2或门 A ffi 3-2或门 ffl 3-3非门 A- — A — A — A …B- 孑1 =1 —Y 團3-6畀或门图#5或耳E门 ? 3-4与非门在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。三、实验内容与数据记录 1、分别列出芯片 74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86 的真值表。 A B L 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 TTL门电路的逻辑功能测试实验报告 L=AB+AB 非=A74LS08L= AB+AB 非 +A L=AB+AB 非=A 74LS08 74LS32 ABL0 A B L 0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0 A B L 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 L=AB 非 +A 非 B 74LS86 L=A非B非 74LS02 A B L 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 L=AB 非+ A非B+A非B非=A非+B非 74LS00 四、实验结论与心得通过本次实验让我明白了 TTL集成芯片中的逻辑功能，了解了各种逻辑电路的实验，更加深入了对数字电路的理解，其中要仔细注意各种芯片引脚里门电路的分布，正确连接试验箱就能正确检验门电路，为以后的数字模拟电路实验打下了基础