半导体测试理论-运放电路测试dut板.docx

四运放卡DUT应用说明 一．概述 用于通用运算放大器及电压比较器测试的 DUT 卡，可用于双运放 LM358 、四运放 LM324 ，双比较器 LM393 、四比较器 LM339 等器件的主要参数。其外观见图 1。 该 DUT 卡由一块主卡 DUT 和四块运放环路卡 OPLOOP1A 组成， 可对一颗运放的四个 单元同时搭接闭环环路，以提高测试速度。 为完成单工位运放（或比较器）参数测试，该 DUT 卡至少需要从 STS 8107 主机引入 POWER 插头、 DUT 插头、 C-BIT 插头、 PVM 插头各 1 个。 该 DUT 卡还用 LED 对 C-BIT 各位的状态进行显示，以便于环路工作状态的分析和程 序的调试。 二．测试原理 DUT 卡的原理框图见图 2。由图可知 DUT 卡上有 4 个相同的辅助运放环，可以同时搭 接 4 个运放环路，完成 4 单元运放的测试。 DVI2V+RJ4JAMPMVSORJ7RJ8AMP￡AMPPVMYMVS2 —OMVS3 —QDVI0 DVI2 V+ RJ4 J AMP MVSO RJ7 RJ8 AMP ￡ AMP PVM Y MVS2 —O MVS3 —Q DVI0 —o J2VI1 /SO K2 K3 O1 ——| DVI3 图2 DUT原理框图 DUT卡中所用到的系统主要硬件资源如下： DVI2 :向DUT提供正电源V+，并测试其工作电流。 DUT3 :向DUT提供负电源V-，并测试其工作电流。测试单电源运放时， V-应设为零。 DVI0 :测试DUT中A、B两单元的输出端参数。 DVI1 :测试DUT中C、D两单元的输出端参数。 MVS0 :向DUT输入端提供共模或差模电压。 MVS2 :提供偏置电压，以控制 DUT的输出电压 VO。 MVS3 :测试开路门比较器时用于 DUT输出上拉电压。 DUT卡上的主要元器件及功能如下： DUT :被测器件。AMP :辅助运放。K1 (C-BIT 0-0 )用于DUT反向输入端接地。K2 (C-BIT 0-1 )K3 ( DUT :被测器件。 AMP :辅助运放。 K1 (C-BIT 0-0 ) 用于DUT反向输入端接地。 K2 (C-BIT 0-1 ) K3 (C-BIT 0-2 ) K4 ( C-BIT 0-3) K5 ( C-BIT 0-4) K6 ( C-BIT 0-5) 用于DUT反向输入端接 用于DUT同相输入端接 MVS0。 MVS0。 用于DUT同相输入端接地。 用于DUT反相输入端短接 用于DUT同相输入端短接 IB测试电阻。 IB测试电阻。 K7A，K7B （ C-BIT 0-6）:用于DUT连接辅助放大器构成闭环。 K8（C-BIT 0-7）：用于DUT自身闭环（用于交流参数测试）。 K9A （ C-BIT 1-0）:用于DUT输出端接入负载电阻 R2（ 2K）。 K9B （C-BIT 1-1 ）:用于DUT输出端接入负载电阻 R3（ 10K）。 K11A （ C-BIT 1-2 ）:用于 DUT输出端接入上拉电阻 R4（ 15K ）。 K11B （ C-BIT 2-1 ）:用于辅助运放输出端接入系统 PVM。 K12 （ C-BIT 2-2 ）:用于 DUT 输出端接入 DVI0 （或 DVI1 ）。 RJ1 : VO 控制电阻(200K)，VO = MVS2 ( RJ1 / RJ2)。 RJ2 : MVS 输入电阻（100K）。 RJ5、RJ6 :环路输入电阻 Ri （100Q）。 RJ4、RJ9 :环路反馈电阻 Rf （ 50K ）。环路增益 =Rf / Ri = 500。 RJ7、RJ8 :偏置电流采样电阻（50K ）。 R2 : DUT负载电阻（2K）。 R3 : DUT负载电阻（10K）。 R4 : DUT上拉电阻（15K）。 三?主要测试参数 输入失调电压Vos 参数定义：在规定的电源电压下，使被测器件输出电压为零（或规定值）时，两输入端间所 加的直流补偿电压。 测试原理： 测试方法： DUT电源端通过 DVI2与DVI3施加规定的电源电压 V+、V-。 通过设置MVS2电压，使DUT输出电压 Vo设为规定值。 用PVM在辅助运放输出端测试输出电压 VL。 输入失调电压 Vos = Vl / ( Rf / Ri)。 输入偏置电流IB+ 参数定义：在规定的电源电压下， 使被测器件输出电压为零 （或规定值）时，流入（或流出） 器件同相端的电流。 测试原理： 测试方法： a.DUT电源端通过 a. DUT电源端通过 DVI2与DVI3施加规定的电源电压 V+、V-。 通过设置MVS2电压，使DUT输出电压 Vo设为规定值。 C.闭合开关 K5和K6,在辅助运放输出端用 PVM测试输出电压 Vlo