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《光谱分析用铑基体》 编制说明 （预审稿） 贵研资源（易门）有限公司 2019 年 4 月 《光谱分析用铑基体》 编制说明 1 工作简况 1.1 任务来源 YS/T 85-2006 《光谱分析用铑基体》产品标准自发布实施十余年以来，为我国发射 光谱法测定铑产品中杂质元素含量所用铑基体及其标准样品的制备， 以及为该纯度铑产 品的深加工、研制、生产和使用作出了重要的贡献。但是，随着我国铑族金属二次资源 废料的组成、成分日趋复杂，湿法冶金精炼铑生产技术的进步，使用企业对产品质量的 要求和发射光谱分析法等对杂质元素分析检测技术的提高，以及 GB/T 1421 《铑粉》中 仍保留发射光谱分析法， 2016 年 4 月，贵研资源 (易门 )有限公司提出修订 YS/T 85-2006 《光谱分析用铑基体》产品标准的