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物理科学与技术学院 本科课程教学大纲
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注:微电子 必修课
《半导体材料及IC工艺原理》教学大纲
课程代码:
英文名称: Semiconductor Materials Principles of IC Processing
课程类别: 必修课;
总学时: 64学时;
开课时间: 春季;
计划授课对象: 微电子学本科专业学生(三年级);非微电子学本科毕业的相关电子类研究生;
先修课: 大学物理、微电子器件基础;
主要教材: 《半导体材料》讲义,游志朴 编著,(原书在台湾出版);
《The Science and Engineering of Microelectronic Fabrication》, Stephen A. Campbell, Oxford(电子工业出版社购入版权), 2001;
建议参考书: 《半导体材料》,杨树人 等编著,科学出版社,2003;
《材料科学与技术丛书—半导体工艺》, K. A. 杰克逊 等 主编,科学出版社,1999;
《Silicon VLSI Technology—Fundamentals, Practice and Modeling》,Lame D. Plummer et al, Pearson Education , 2000;
《Silicon Processing》,Stanley Wolf and Richard N. Tauber,Lattice Press,2000;
《Semiconductor Manufacturing Technology》,Michael Quirk, Julian Serda, Prentice Hall(科学出版社购入版权), 2001;
本课程包括两个部分。第一部分介绍主要的半导体材料,基本性质、在器件制造中的应用、材料的生长和加工、材料的测试和评价。第二部分介绍超大规模集成电路制造的工艺流程,包括构成流程的各个基本工艺的原理、技术要点、检测方法和工艺质量评价。该课程不仅是工艺工程师的入门知识,也是设计工程师应掌握的基本知识。
第一篇
第一章: IC平面工艺及发展概述(2学时)
简要介绍半导体材料及器件的发展历史,现状。特别是强调现代先进工艺技术和得以发展的特点;工艺分析测试技术、工艺过程质量控制、可靠性的重要性,这一问题将贯穿整个课程。简要介绍半导体器件的基本工艺流程工艺,以便对各工艺技术在不同器件中的应用有所了解。
第二章:半导体材料的基本性质(4学时)
了解多种常见半导体材料(重点是Si、GaAs、SiC和GaN)的基本特性和用途。
—掌握常见材料的基本物理和化学性质。
—结合器件物理掌握器件对材料的要求。
—掌握材料参数的测量方法。
第三章:Si单晶的生长与加工(6学时)
—掌握晶体生长过程中的相变(相图)、固溶度与分凝等物理概念。
—了解Si材料的化学提纯过程。
—掌握单晶Si的直拉法(Cz-Si)和区熔法(Fz-Si)生长的基本工艺特点;杂质(施主、受主、O和C)、缺陷和均匀性的控制方法,及其改进工艺(MCz-Si)的原理。
—掌握上述Si材料在器件中应用;了解NTD-Si的制备和应用。
—了解化合物半导体(GaAs为主)的生长技术和特点。
—了解材料晶片的加工技术。
—掌握Si晶片的杂质吸除技术的原理和方法。
第二篇
第一章:IC制造中的超净和硅片清洁技术(2学时)
—了解IC工艺对超净环境的要求,了解超净环境的获得方法、等级的意义和评价指标。
—了解IC工艺对化学试剂、气体、去离子水以及容器的要求。
第一单元:图形加工技术
第二章:图形转移技术(光刻技术)(4学时)
—掌握光刻工艺的基本流程。
—了解光刻胶及正负胶基本性质和特点。
—掌握光刻技术的工艺控制和质量检测方法。
—了解提高光刻精度的先进方法。
第三章:图形刻蚀技术(3学时)
—了解湿法和干法刻蚀的原理和主要方法。
—掌握Si3N4,SiO2,多晶Si及金属的湿法和干法刻蚀。
—了解终点检测及损伤。
第二单元:热处理和局域掺杂技术
第四章:热氧化技术(6学时)
—掌握SiO2的结构及性质。
—掌握SiO2薄膜在器件和器件工艺中的应用。
—掌握SiO2薄膜的热氧化生长工艺。
—掌握Si-SiO2界面性质及测量。
第五章:扩散掺杂技术(5学时)
—掌握热扩散方程及其两种边界条件下的解。
—掌握扩散常规工艺的控制方法及影响扩散的一些因素。
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