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第五章.锥光系统下晶体的光学性质;Nm;Nm;一. 垂直锐角等分线切面干涉图;;一. 垂直锐角等分线切面干涉图;垂直Bxa切片不同位置的波向图;（1）确定轴性及切片类型（2V小于45o）
（2）测定光性符号
（3）测定光轴角大小. ;二轴晶垂直Bxa切面干涉图中,在光轴面与薄片平面交线方向, 光率体椭圆长短半径的分布方位示意图;二轴晶垂直Bxa切面干涉图中
光率体要素分布(A)和Bxa/Bxo的投影方位(B);利用垂直 Bxa 切片干涉图测定光性符号示意图;二. 垂直一个光轴切面的干涉图;;(1).确定轴性及切片类型 ( 2V 小于80o );
(2).测定光性符号； (3).测定光轴角大小. ;根据垂直光轴切片干涉图中
黑带弯曲程度目估2V大小;三. 斜交光轴切面干涉图;近于垂直Bxa切面干涉图随物台转动的变化特点; 近于垂直光轴切面干涉图的特点;2.二轴晶斜交切面干涉图的应用;四.平行光轴面切面干涉图;四.平行光轴面切面干涉图;五.垂直钝角等分线(Bxo)切面干涉图;
只有当能够确定切片类型时，才能用来测定光性正负。
;; 二轴晶干涉图观测内容
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